XFlash^®7 -新的EDS探测器系列

元素分析

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QUANTAX EDS SEM

SEM, FIB-SEM和EPMA的能谱分析

XFlash^®7 -用于扫描电子显微镜的EDS检测器

达到无与伦比的分析速度!

量化最复杂的数据使用最全面的原子数据库包括。K, L, M和N行!

通过生成x射线的最佳可用几何收集效率最大化您的样本吞吐量!

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QUANTAX EDS TEM

纳米尺度的透射电镜元素分析

XFlash^®7T -用于TEM, STEM和T-SEM的EDS检测器

识别并量化所有当前的元素，明确地由更高能量的元素线支持!

成功的TEM, STEM和T-SEM与易于使用的基于理论和实验Cliff-Lorimer因子的强大量化程序，以及zeta因子插值!

映射周期结构(原子，层)具有高稳定性和舒适的非周期特征支持专用漂移校正例程!

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Webinare

在线研讨会

点播- 41分钟

使用XFlash提高效率^®7 EDS探测器系列

在本次网络研讨会上，我们将介绍新的XFlash的优点和效率的提高^®7个探测器系列交付。本文还介绍了Esprit LiveMap的工作流程，用户可以实时进行化学成像。

点播会议- 35分钟

XFlash简介^®7 EDS检测器

在本次网络研讨会中，我们将介绍这种新型探测器系列的优点，并讨论显微镜探测器几何形状的细节。我们还展示了跨不同应用领域的数据采集和分析示例。

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