XRF艺术保存数据处理-ESPRIT反射高级特征

X射线荧光测量被广泛视为在保存、恢复、认证过程或处理文物历史题时诊断的关键步骤

硬件特征和性能工具仅仅是数据采集的第一步软件包设计工具增强用户从获取数据提取额外信息的能力我们希望把数据处理方法带入中心阶段

最近发布ESPRIT流水软件很容易使用工具,提供各种功能调查元素组成----不仅提升定性信息,而且提供稳健量化数据计算

网络研讨会中,我们从最近引入ESPRITReveal核心特征开始继续,将焦点移向最进化和最精密特征,支持高级元素识别和量化

• 研究者、专业人员和学生文化遗产分析
• 考古学或艺术科学家现场工作文化遗产
• 有兴趣扩展对微XRF分析总体内容理解者