QUANTAX EBSD
On-Axis TKD für unübertroffene Leistung
Beste räumliche Auflösung
Niedrige Strahlstrome
突出了
1、5
纳米
有效的räumliche Auflösung
Unübertroffene Leistung durch einzigartige On-Axis-TKD mit optimaler probe - detector - geometrie
2
na
麦克斯·斯特拉尔斯特伦
轴上TKD ermöglicht Messungen bei niedrigem Strahlstrom ohne Beeinträchtigung der Geschwindigkeit und Datenqualität
125.000
pps
超chnelle Erfassung von FSE-， BSE和STEM-Bildern
Kontrastreiche und geräuscharme Bildgebung innerhalb von Sekunden mit dem unübertroffenen ARGUS-Bildgebungssystem
orienterungsmaps von Nanomaterialien mit unübertroffener räumlicher Auflösung
Das QUANTAX EBSD-System mit dem OPTIMUS TKD-Detektorkopf ist die beste verfügbare Lösung für die分析von Nanomaterialien im, weil es:
- die beste räumliche Auflösung von bis zu 1,5 nm bietet
- mit niedrigen Strahlströmen ohne折中方案下Geschwindigkeit和/订单Datenqualität arbeitet
- die einzige TKD-Lösung ist, die im ultra-hochaufgelösten REM-Modus bei Benutzung von Immersionslinsen anwendbar ist
- Das vollautomatische, integrerte百眼巨人-Bildgebungssystem verwendet
Vorteile
轴上TKD?
Wir danken Aaron Lindenberg和seiner Arbeitsgruppe an der斯坦福大学für die Erlaubnis, dieses Dunkelfeld-ähnliche Bild ihrer Ge-Sb-Te (GST) Dünnschichtprobe zu veröffentlichen
- 嗯die beste räumliche Auflösung zu erreichen
- für东方地图和相位作图与REM
- für schnelles Mapping ohne妥协下Datenqualität和integrität
- zur Erfassung von STEM-ähnlichen Bildern mit hervorragended Kontrast and best Auflösung bei höchsten Geschwindigkeiten and mit vollautomatischer信号优化
- zur分析strahlempfindlicher Materialien mit niedrigen Strahlströmen
