顶点70 v

Vakuumoptik

Mit der evakuierbaren Optik des vacuum FT-IR-Spektrometers VERTEX 70v wid die PEAK-Empfindlichkeit in der mittleren, nahen und fernen IR/THz-Region ohne Angst erreicht, sehr schwache Spektralfunktionen zu maskieren, die durch Wasserdampf oder CO₂-吸收式的。Es können herausrende Ergebnisse, z. B. im Bereich der Nano Science-Forschung bis zu亚单细胞erzielt werden。

Bruker FM FIR-MIR-Spektroskopie

死亡的力量FM-Technologiebietet die einzigartige Möglichkeit, ein komplettes Fern- und mittel - infrarotspectrum von 6000厘米^－1双50厘米^－1在einem Messschritt aufzunehmen, ohne optische Komponenten wechseln zu müssen。

布莱特Spektralbereich

Das VERTEX 70v kann mit optischen Komponenten ausgestattet werden, um den Spektralbereich von 10厘米^－1im fernen IR/THz, durch den mittleren und nahen IR bis zum sichtbaren/UV-Spektralbereich bei 28.000 cm^－1abzudecken。岩石-固体干涉仪在岩石-固体-干涉仪上的研究。

Automatisierung über ein intelligentes Netzwerk

in Netzwerk intelligent Funktionen wie z. B. Erkennung von Probenzubehör und optischen Komponenten, automatische Einrichtung and Prüfung von mesparametern macht die FT-IR-Spektroskopie einfach, schnell and zuverlässig。Darüber hinaus gewährleistet die permanente Online-Prüfung der Spektrometer-Komponenten, dass Fehlerdiagnosen and Wartung einfach bleiben。Diese Funktionalität wid über eine Suite一个软件工具sichergestellt。

即插即用:Einfache Einrichtung

法律，wo Sie gerade auf der Welt sind: Stecken Sie den Netzstecker in eine Steckdose and schließen Sie das ether - kabel and schon ist das VERTEX 70v einsatzbereit。Über das以太网- kabel zum顶点70v kann das Spektrometer auch über Ihr Netzwerk oder das Internet gesteuert werden。

Das VERTEX 70v ist Das ideale仪器für anspruchsvolle Forschungs- und Entwicklungsanwendungen。

产品技术专利geschützt: US 7034944

Das VERTEX 70v-Spektrometer erfüllt in idealer Weise die Erfordernisse für Forschungsanwendungen, bei denen hohe Empfindlichkeit, Stabilität und Zeitauflösung benötigt werden。Der verfügbare Spektralbereich bis zum FIR/THz ermöglicht zusätzlich weitere spezifische Anwendungen in Der industriellen Entwicklung und Analytik。Die vielfältige VERTEX 70v-Instrument bietet zusammen mit passenden Zubehören und der Verwendung der richtigen Messtechnik eine Lösung für fast jede Aufgabe im Bereich der FT-IR-Spektroskopie。

Forschung & Entwicklung

• Zeitaufgelöste光谱检测技术和步进扫描技术振幅-相位调制(AM)(步进扫描/快速扫描/交错TRS)
• FT-IR-Spektroskopie im超真空
• FT-IR-Spektroelektrochemie für die in-situ-Charakterisierung von Elektrodenoberflächen und Elektrolyten
• Wasser蛋白素原(CONFOCHECK)

制药公司

• 绝对配置Molekülen (VCD)
• 贝斯特蒙德Stabilität和flüchtigen贝斯特泰勒冯医学门滕mit希尔夫热分析仪Verfahren (TGA-FT-IR）
• 关于热带植物多形体的研究(力量调频）

多聚物与化学

• Identifizierung anorganischer Füllstoffe in Polymerkompositen im fernen Infrarotbereich (力量调频）
• 聚合物的动力学与流变光学
• 贝斯特蒙flüchtiger热采采珠的热采珠和热采珠的热采分析(TGA-FT-IR）
• 反应与控制(MIR-Fasersonde)
• 矿物和色素的组织鉴定

Oberflachenanalytik

• Erkennung和Bestimmung von dünnen Schichten和Monolagen
• Oberflächenuntersuchungen mit偏振调制技术(PM-IRRAS）

Materialwissenschaft

• 光学与反光材料特征(范斯特，明镜)
• 材料和照片的外观设计(PAS)
• Bestimmung des Emissionsvermögens von Materialien

Halbleiter

• 在Siliziumwafern der Qualitätskontrolle的Sauerstoff- und kohlenstofanteiles

外部Zubehöre, Quellen und Detektoren

Das VERTEX 70v-Spektrometer ist mit fünf Strahlausgängen und zwei weiteren Strahleingängen ausgestattet und bietet die Möglichkeit, Das System ohne Weiteres mit externem Messzubehör, Quellen und Detektoren zu erweitern。Dies beinhaltet folgende Möglichkeiten:

• PMA 50 Polarisations-Modulations-Zubehör fürVCD和PM-IRRAS
• PL II光致发光模块
• RAM II ft - raman - module和das RamanScope III FT-Raman-Mikroskop
• TGA-FT-IR-Kopplung
• FT-IR-Mikroskope der hyperon - serie
• HYPERION 3000 ft - ir成像系统
• HTS-XT高通量筛分分机
• IMAC焦平面阵列微距成像Zubehör
• Externe Probenkammer XSA, evakuierbar oder spülbar
• Vakuumdichte适应外部UHV-Kammer
• Vakuum-PL / PT / PR-Messeinheit
• Einheit zur Kopplung einer Faseroptik MIR- oder NIR-Fasersonde für Feststoffe und Flüssigkeiten
• Große Integrationskugeln
• Autosampler-Zubehore
  

• 走读生FIR-Hg-Lampe
• weitbereich - mir - fir - strahlteiler及检测器(力量调频）
• 走读生Emissionsadapter
• 走读生Hochleistung-MIR-Quelle
• 外部真空检测器4定位
• 适应eines辐射热计für模具检测im FIR-Bereich