测试与测量

笔分析器

一流的笔分析器

力量的Dektak®笔分析器的高潮在50年的专有技术的进步。他们提供可重复的、可靠和准确的测量,从传统的阶梯高度测量和2 d表面粗糙度特征先进的3 d地图和薄膜应力分析。Dektak表面分析器被广泛接受的黄金标准测量薄膜厚度、应力、表面粗糙度和形式多样的应用领域从学术研究到半导体过程控制。

在分析创新的五十年

Dektak品牌拥有的第一个分析器薄膜测量,第一个基于微处理器的分析器,第一个分析器使用3 d功能,第一个基于pc的分析器,第一个自动分析器300毫米。DektakXT继续这个传统的开创性的“第一次”作为第一笔分析器实现一个单孔设计,第一个将简单和可靠的笔交易所,也是第一个利用64位并行处理架构实现最优测量和操作效率。

专为无与伦比的触摸笔轮廓测定法

Dektak系列讲座

我们的在线研讨会包括最佳实践,介绍新产品,提供快速解决棘手的问题,并为新的应用程序提供想法,模式,或技术。

服务和支持

我们如何帮助?

力量合作伙伴与客户解决实际应用问题。我们开发新一代技术,帮助客户选择合适的系统及配件。这种伙伴关系继续通过培训和扩展服务,很久以后销售的工具。

我们的训练有素的团队的支持工程师,科学家和应用主题专家是完全致力于最大化工作效率与系统服务和升级,以及应用程序的支持和培训。

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