表面形貌

掠入射小角散射(GI-SAXS)在1987年引入探测地表和近地表政权的结构细节。在临界角,入射光进行全外部反射和散射信号来自结构性安排下面的头几个Angstroem airsample接口。入射角的增加会导致逐渐增加入射光的穿透深度。这反过来会导致增加的散射体积,因此surface-sensitive散射信号。如果这个入射角大于临界角,然后穿透深度急剧增加。最后,bulk-sensitive散射信号成为主导和surface-sensitive信号就消失了。入射角的变化,因此可以用于无损深度剖析。这种物理现象也用于x射线反射率(XRR)测量技术广泛用于粗糙度的决心,周期性和厚度薄无定形和结晶层垂直于表面的正常。XRR相比,GI-SAXS测量提供更直接的信息关于平面的相关性和经受,多层涂层的特性的重要参数。

掠入射x射线小角散射分析(GI-SAXS)是一种技术,它结合了掠入射几何的表面敏感性质和范围,探讨了小角散射区域使信息在表层纳米结构和纳米粒子。收集的散射是理想的2 d检测器,它给获得横向和垂直纳米结构。