DIFFRAC.LEPTOS
突出了
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x射线反射率(XRR)提供了详细信息垂直样品密度轮廓,层厚度和界面粗糙度。高分辨率x射线衍射(HRXRD)样品的晶体结构的措施。掠入射小角散射(GISAXS)用于评价纳米颗粒和孔隙度。残余应力分析探针批量样品的应变状态和多晶涂层。
随着传统条曲线扫描,LEPTOS使我们能够分析高分辨率HRXRD和XRR倒易空间地图,GISAXS和XRD²压力框架,区域映射为HRXRD, XRR,残余应力的应用程序。不管0-D,数据已经收集一维或二维探测器。
GUI可以定制,以适应科研人员和工业运营商的要求。
- 联合评估多个XRR、HRXRD GISAXS和RS的测量
- 估计先进的x射线散射理论和数值方法,模拟和拟合的数据直接和互惠空间
- 自然综合处理1 -和二维数据集由点,线和二维探测器
- 普遍的示例模型编辑器参数化任何类型的薄膜和批量样品
- 全面的和可扩展的材料数据库涵盖所有230晶体的空间群
- 区域映射工具的显示和评价测量进行了大样本地区
- 先进的罪恶²ψ的残余应力分析方法一维、二维数据,以及多个(hkl)评估多晶涂层的应力梯度的方法
特性
DIFFRAC.LEPTOSModules
LEPTOS R
LEPTOS R是专为x射线反射率(XRR)数据和分析off-specular漫散射(DS)薄层状结构。LEPTOS模块完全集成的套件,包含HRXRD的同时分析,GISAXS和XRR数据。LEPTOS套件的一部分,R模块继承的所有功能共同对整个包。
LEPTOS R高评级在几个国际基准,包括A10 VAMAS项目。LEPTOS R的结构符合新开发国际rfCIF XRR数据的数据格式标准。
LEPTOS H
LEPTOS H代表高分辨率x射线衍射和掠入射x射线衍射数据分析。
LEPTOS模块完全集成的套件,包含HRXRD的同时分析,GISAXS和XRR数据。LEPTOS套件的一部分,H模块继承的所有功能共同对整个包。
LEPTOS年代
LEPTOS S是一个创新的、强大的和全面的模块分析残余应力测量的0 d, 1 d和2 d检测器利用经典sin2ψ和扩展XRD2方法。LEPTOS模块完全集成的套件,继承的所有功能共同对整个包。
LEPTOS G
LEPTOS G使掠入射小角度散射数据的评估,测量的样品含有纳米粒子嵌入在水面下的区域或位于样品的表面。例如,这些可以埋或表面半导体量子点和岛屿,多孔材料,浓缩粉,嵌在聚合物纳米粒子等。G的许可模块包括也为x射线反射率R模块。雷竞技网页版
规范
DIFFRAC.LEPTOS规范
| 版本 | 当前软件版本是V7.10.12 |
分析方法 |
动力Parratt的形式主义 界面粗糙度模型的多样性 运营商x射线散射参数的计算方法 专利的方法EigenWaves(新) 快2 x2和精确的4 x4矩阵递归形式主义 经典和扩展sin2ψ以及XRD2方法 评估来自多个{hkl}的残余应力 在薄的多晶涂层应力/应变梯度 |
操作系统 |
Windows 8和10(32位或64位) |
