eFlash XS

以显著增加实验室的数量能够获得一个集成EDS和EBSD系统Bruker Nano Analytics开发了eFlash XS，这是一种独特的EBSD探测器，专门用于SEM市场的经济实惠部分。eFlash XS EBSD探测器专门设计用于安装在低占用空间的sem上，如桌面sem和带有小腔室的标准sem。

我们的EBSD专业知识已被用于开发最可靠和最实惠的EBSD探测器，同时提供卓越的性能。eFlash XS旨在实现最大的可靠性、易用性和图案质量，由一个具有分块能力的CMOS相机、一个创新的光学系统提供最大的光传输和一个高性能的用户可更换的荧光粉屏幕。它的USB3.0计算机连接(电源和数据)使eFlash XS成为一个真正的即插即用的仪器。当不使用时，EBSD检测器的扫描电镜部分滑落到外部存储，以消除扫描电镜阶段与检测器碰撞的任何风险。

新的eFlash XS EBSD探测器集成了第6代XFlash^®下面的EDS探测器精灵2软件来创建QUANTAX ED-XS，为入门级SEM市场提供强大的分析技术组合。

主要优势(硬件和软件)

易用性

• 无需校准- WD变化对图案中心的影响自动校正
• 不需要更改分组/模式分辨率;如果需要，可以使用所有的启动模式
• 自动相机增益
• 自动晶体相位设置-无需用户干预
• 没有意外的EBSD探测器插入级的风险
• 用户可更换荧光粉屏幕
• 包括独立和同时采集的EDS HyperMap和EBSD地图
• 自动数据保存
• 在地图采集结束时自动关闭EHT是用户可选择的

新用户可以在更少的时间限制下培训和实践EDS和EBSD

样品制备质量可以在昂贵的FE-SEM上进行EBSD之前进行检查

在可负担的sem上运行常规EBSD分析，以减少FE-SEM积压

重要的规格

• 原生图像分辨率:720 x 540像素
  
• 支持的分仓模式:2x2, 3x3, 4x4, 5x5, 6x6
• 速度:525帧/秒(fps)在所有bin模式
• 用户可移动的检测器头部滑动进出机构
• 用户可更换荧光粉屏幕
• 通过USB3.0电缆传输EBSD数据和电力(不需要额外的电缆或盒子)
• 外形尺寸:长~ 84mm，直径~ 48mm