XFlash 6-100椭圆形
SEM、FIB-SEM和STEM-in-SEM的大采集角无窗EDS系统
这种面积大，采集角度高，无窗EDS检测器椭圆形100mm2SDD是为SEM中的特定几何结构精心定制的。独特的形状和最先进的细线设计可以优化采集位置，在不影响SEM性能的情况下，实现高达0.4 sr的x射线采集的实心角度。
总之，XFlash®6-100椭圆形具有以下优点:
- 100毫米2区,没有窗户
- 固体收集角可达0.4 sr，适应性不同
- 所有SEM类型的最大加速电压:30 keV
- 起飞角度一般为30°~ 35°
- 焊接波纹管和防x光快门(可选)
- 无干扰冷却系统
- 自动探测器收放系统
- 优良的轻质元件和低能耗性能
- 布鲁克多才多艺的所有优点分析软件
XFlash的建议应用领域®6-100个椭圆形是:
EDS in SEM、FIB-SEM、stem in-SEM高端元素分析，目的:
- 低kV和光束敏感样品
- 轻元素分析
- 高空间分辨率
- 快速数据采集