QUANTAX FlatQUAD
x射线探测的最大效率
无与伦比的吞吐量
敏感样品分析
突出了
1
纳米
空间分辨率
扫描电镜的纳米级分辨率
> 1.1
老
最高实心角
立体角表示所产生x射线的几何收集效率
2400年
kcps
吞吐量
比传统的EDS探测器快4倍
QUANTAX FlatQUAD -传统的sdd达到限制
QUANTAX FlatQUAD是基于EDS微量分析系统的革命性产品XFlash®FlatQUAD．该环形四通道硅漂移探测器插入SEM极片和样品之间，在EDS中实现最大实心角。结合思捷环球分析软件套件，QUANTAX FlatQUAD提供无与伦比的测绘性能，即使是最困难的样品。
- 极快的映射只使用中等光束电流
- 在极低光束电流(< 10pa)下分析光束敏感材料，例如雷竞技网页版生物或半导体样品
- 带地形调查样品，避免阴影效应
- 低kV和最高放大倍率下纳米粒子和纳米结构的分析
- 薄样品的测量(例如:TEM薄片)等扫描电镜下x射线产率较低的试样。
好处
最大化你的效率
布鲁克独特的环形设计XFlash®FlatQUAD检测器及其在SEM极片和样品之间的位置导致了无法匹配的立体角，直接转化为更快的测量。连同思捷环球软件套件，QUANTAX FlatQUAD提供了理想的仪器，以分析例如在最低光束电流敏感样品或高地形样品。
的XFlash®FlatQUAD还可以将您的SEM或FIB转换为低压分析STEM，以更及时和更经济的方式以最高的空间和光谱分辨率分析电子透明样品。
要从电子透明样品中获得更多信息，请结合XFlash®FlatQUAD与eFlash EBSD探测器改装擎天柱头。
