基于FT-NIR和FT-IR技术的过程光谱仪

光谱学是当今在线过程监测和优化的重要方法。光纤耦合探头允许直接查看过程没有延迟。

FT-IR / FT-NIR过程光谱仪

FT-NIR解决方案的优势主要体现在常规工艺应用中。由于测量时间短,几乎可以立即获得用于监视和控制的重要工艺参数。各种各样的探头或流池允许在几乎所有工艺条件下使用近红外技术。MATRIX-F II及其内部6多路复用器提供了一种使用标准SMA连接器连接光纤耦合测量附件的简便方法。

FT-IR解决方案通过简单的峰值分析和趋势监测,展示了其在工艺开发和优化方面的优势。目前主要应用在实验室和试验工厂。MATRIX-MF可以配备各种探测器和探头,并适应于工艺应用的特定要求。IRcube -布鲁克公司的高性能FT-IR干涉仪-可用于OEM定制集成。


在化工、石化和聚合物行业以及食品和饲料领域以及制药生产过程中的大量安装证明了我们的经验。


所有布鲁克过程光谱仪的特点是坚固耐用,长期稳定,易于维护。