纳米红外光谱学

散射SNOM)

s-SNOM技术提供了有关样品纳米级区域复杂光学特性的信息

红外散射扫描近场光学显微镜

该技术提供了关于金属化尖端下样品纳米级区域复杂光学特性的信息。具体来说,散射光的光幅和相位都可以测量。通过适当的模型,这些测量可以估计出材料的复杂光学常数(n, k)。此外,光学相位对波长提供了一个很好的近似传统的红外吸收光谱通常掠入射。

s-SNOM技术适用于各种材料,但最好的信噪比往往是在具有高反射率、高介电常数和/或强雷竞技网页版光学共振的较硬材料上。布鲁克的nanoIR3-s为s-SNOM功能提供了理想的平台,消除了复杂的光学校准的需要:

  • 专利的自适应光束转向和全反射光学系统实现了广泛的波长兼容性,同时消除了不同波长的重新对准和重新聚焦
  • 专利动态功率控制在广泛的光源,波长和样品范围内保持最佳功率和信号
  • 预安装探针和电动尖端,样品和源对齐消除了探针安装和重新优化的繁琐步骤

10nm空间分辨率化学成像与光谱学

石墨烯等离子

石墨烯楔上表面等离子激元(SPP)的s-SNOM相位和振幅图像。(左)s-SNOM相位与SPP驻波的线截面;(右)s-SNOM振幅。上图是相位图(左)的3D视图。

高分辨率属性映射

石墨烯薄片的横截面显示了低于10nm分辨率的光学特性成像。

最高性能纳米FTIR光谱

最高性能的红外SNOM光谱与最先进的纳米红外激光源可用。

  • 纳米FTIR光谱与集成DFG,基于连续介质的激光源
  • 宽带同步加速器光源集成
  • 用于光谱和化学成像的多芯片QCL激光源
超快宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。雷竞技怎么下载聚四氟乙烯(PTFE)的激光干涉图在时域上显示出自由感应衰减形式的相干分子振动(上)。雷竞技怎么下载样品干涉图中突出的特征是由于在得到的频域中C-F模式的对称和反对称模式的敲打(左下)。在单层pNTP上展示了纳米ftir的单层灵敏度(右下)。数据由美国科罗拉多大学博尔德分校Markus Raschke教授提供。

结合S-SNOM和AFM-IR创造非凡的新数据

李建军,李建军,李建军,等。Doi: 10.1038 / ncomms12045

互补的AFM-IR和散射SNOM图像首次揭示了等离子体结构上光学手性的微观起源。通过获取等离子体结构的辐射(s-SNOM)和非辐射(AFM-IR)信息,可以获得独特和互补的等离子体特性。

nanoIR3-s从纳米红外扩展到可见光、太赫兹和同步加速器光束

  • nanoIR3-s实现可见SNOM成像
  • 系统支持太赫兹成像和光谱学
  • 可用于同步加速器的特殊设计
  • 容易改变的激光设置,以最大限度地提高测量时间
  • 简单的交换光学元件和探测器
633nm氦氖激光s-SNOM可见光成像。

消除了对复杂光学校准的需要

  • 专利的自适应光束转向和全反射光学系统实现了广泛的波长兼容性,同时消除了不同波长的重新对准和重新聚焦
  • 专利动态功率控制在广泛的光源,波长和样品范围内保持最佳功率和信号
  • 预安装探针和电动尖端,样品和源对齐消除了探针安装和重新优化的繁琐步骤