三维x射线显微术(XRM)

SKYSCAN 1272 CMOS版

高分辨率三维x射线显微术

样品的清晰3D视图

突出了

突出了

0.6 m²
足迹
适合每个实验室的桌面系统
16-position
外置换样器
无人值守的高通量分析
互补金属氧化物半导体
探测器技术
高对比度图像

SKYSCAN 1272 CMOS -高分辨率XRM

SKYSCAN 1272 CMOS版建立在值得信赖的SKYSCAN 1272桌面x射线显微镜平台上,并结合了最新的x射线技术,将XRM提升到一个新的水平。

最先进的1600万像素CMOS x射线探测器提供高对比度图像和卓越的分辨率。扩展的探测器视野和增强的x射线灵敏度导致扫描时间缩短了两倍。

SKYSCAN 1272 CMOS提供天才模式参数的自动选择。放大倍率,能量,滤镜,曝光时间和背景校正都可以通过点击自动优化。

16位样品换样器可选用于无人值守的高通量扫描。

SKYSCAN 1272 CMOS由3D.SUITE补充。这个全面的软件套件包括gpu加速重建,2D/ 3D形态分析,以及表面和体绘制可视化。

特性

关键特性

SKYSCAN 1272 CMOS功能

天才模式

SKYSCAN 1272 CMOS提供天才模式参数的自动选择。放大倍率,能量,滤镜,曝光时间和背景校正都可以通过点击自动优化。


此外,样品和大幅面CMOS相机都可以放置在尽可能靠近光源的位置,这大大提高了测量强度。这就是为什么与固定摄像头位置的传统系统相比,SKYSCAN 1272 CMOS扫描速度高达5倍。

SKYSCAN 1272 CMOS功能

样改变

SKYSCAN 1272 CMOS可选择配备外部16位样品转换器,以提高QC和常规分析的吞吐量。

样品更换器接受各种样品尺寸,最大直径为25毫米。

样品可以很容易地在任何时候更换,而不中断正在进行的扫描过程。自动检测新样品,LED指示每次扫描的状态:准备好,扫描,完成。

SKYSCAN 1272 CMOS功能

现场阶段

布鲁克材料测试级设计用于进行高达4400 N的压缩实验和高达440 N的拉伸实验,所有级都通过系统的旋转级自动通信,而不需要任何电缆连接。使用所提供的软件,可以设置预定的扫描实验。

布鲁克的加热和冷却阶段的温度可达+80ºC,或低于环境温度30ºC。就像其他阶段一样,不需要额外的连接,并且有一个自动识别的阶段。使用加热和冷却阶段,可以在非环境条件下检查样品,以评估温度对样品微观结构的影响。

Skyscan 1272 cmos
无需外部冷却水或特殊电源,性能无任何妥协:专为当今生态和经济需求而设计

Skyscan 1272 cmos
智能解决方案和设计,如集成隔振,形成一个完美的整体

应用程序

突出显示的应用程序

Skyscan 1272 cmos

纤维和复合材料

一个FFP2掩模的体积渲染,纤维是由局部方向进行颜色编码的

通过将材料组合成复合材料,雷竞技网页版所得到的组件可以增加强度,同时显著降低重量。进一步的优化来自于确保子组件的方向得到优化。使用的经典部件之一是纤维,从混凝土中的钢筋,电子元件中的玻璃纤维,到航空材料中的碳纳米管。雷竞技网页版XRM允许在不需要横截面的情况下检查纤维和复合材料,确保样品的状态不受样品制备的影响。

  • 嵌入对象的方向
  • 定量层厚,纤维尺寸和分离
  • 现场温度和物理性能测试与辅助阶段
Skyscan 1272 cmos

药品

一种肠溶颗粒形式的口服药物,像元尺寸为0.45 μ m。涂层由三层组成,外层是颜色编码的厚度。

研制一种新药是一项费时又费钱的工作。XRM可以通过在产品配方阶段提供对产品内部结构的即时反馈来加快产品上市时间。

  • 确定表的压实密度
  • 测量涂层厚度均匀性
  • 评估API分布
  • 在压实表中检测应力引起的微裂纹
  • 采用原位压缩试验进行力学性能测试
Skyscan 1272 cmos

泡沫

重建数据的多体积图像和彩色编码的结构分离,显示了泡沫单元的直径以及开孔泡沫镍支柱的中空特征。1.0 μ m像素尺寸。

泡沫被广泛应用于工业领域。它们是否被用作隔热或隔音绝缘体、防护部件中的减震器、过滤器……取决于泡沫的材料和结构特性。
XRM能够以非破坏性的方式可视化泡沫的3D内部结构。

  • 确定局部支板的结构厚度
  • 确定结构分离,以可视化孔隙网络
  • 应用压缩和拉伸阶段的原位力学试验
  • 量化开放孔隙度和封闭孔隙度

规范

SKYSCAN 1272 CMOS规格

功能

规范

好处

x射线源

40 - 100 kV

10 W

在4 W时,光斑尺寸< 5µm

免维护的密封x射线源

快速扫描QC,或4D XRM

x射线探测器

16mp sCMOS探测器(4096 x 4096像素)

高精度探测器,实现最高分辨率

对象的大小

75毫米直径

80毫米高度

能够扫描从小到中,大样本量

样改变

(可选)

16个样品直径可达25毫米

外部访问

无人值守高吞吐量

大样本和小样本的任意组合

在不中断实际扫描的情况下,随时添加/删除样本

宽1160毫米×深520毫米×高330毫米

重量150公斤

节省空间的桌面系统,适合每个实验室

电力供应

100-240V AC, 50-60Hz, 3A max。

最低的安装要求,一个标准电源就足够了

软件

定位,扫描,重建和分析

Bruker XRM解决方案包括收集和分析数据所需的所有软件。直观的图形用户界面,用户引导参数优化,支持专家和新手用户。通过使用最新的GPU驱动算法,重构时间大大减少。CTVOX、CTAN和CTVOL结合起来形成了一套功能强大的模型定性和定量分析软件。

测量软件:
SKYSCAN 1272 -仪器控制,测量计划和收集

重建软件:
NRECON -将2D投影图像转换为3D卷

分析软件:
DATAVIEWER-逐片检查3D卷和2D/3D图像配准
CTVOX-通过体渲染实现真实的可视化
CTAN- 2D/3D图像分析和处理
CTVOL-表面模型的可视化导出CAD或3D打印

在线研讨会

支持

服务与支持

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