AFM模式

开尔文探针力显微镜(KPFM)

高空间分辨率表面电位测量在一个广泛的样本

金属和半导体纳米结构被用于各种各样的设备,从传感器到太阳能电池。研究人员感兴趣的纳米结构的表面潜力分析,表面,和设备,因为这些属性强烈影响当地的化学和物理现象。开尔文探针力显微镜(KPFM)使高分辨率表面各种样品的潜在和地形映射。

力量提供了两种基于KPFM模式TappingMode™技术:

  • KPFM(也称为表面电位模式)振幅调制KPFM反馈振荡的振幅的变化调查
  • KPFM-FM:调频KPFM反馈改变探头的频率振荡

PeakForce KPFM™附件包括上述KPFM模式,以及强大的KPFM模式基于力量的专利PeakForce攻®技术。

合成图像的地形和表面激光二极管的潜力。8μm扫描。