轮廓精英X
用于工业应用的生产计量和高保真成像
突出了
轮廓精英X
全自动、大样本Contour Elite X 3D光学剖面仪将无与伦比的测量能力与业界最大视场的最高垂直分辨率以及高保真彩色或单色成像相结合。没有其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作便利性和成像功能，以解决如此广泛的生产计量应用。Contour Elite X从头开始设计，以满足最苛刻的研发，质量保证和过程质量控制需求，提供了最终的可测量的3D光学轮廓解决方案。
可靠的
光学测量
告知可量化的研发和QA/QC决策。
真彩色
成像
揭示先前隐藏的微观细节。
灵活的
分期和固定
为您的特定样品和应用量身定制计量。
特性
彩色成像与计量相结合
高保真彩色成像，具有独家侧面照明和先进的算法，使Contour Elite X用户能够获得单独提供计量系统无法获得的额外视角，以及提供可识别的表面特征细节报告的能力。这使得用户能够根据颜色或灰度信息对数据进行细分，以快速选择感兴趣的区域，并从这些特定区域收集关键的计量数据。将高端计量学与查看、识别和显示所测量内容的能力相结合是非常重要的，不仅对于理解数据，而且对于传达结果也是如此。
彩色图像叠加的印刷电路板(PCB)三维高度图。
最佳横向和垂直分辨率
用传统干涉测量剖面仪实时观察金属圆柱体的离焦表面(左)。清晰的通焦图像(右)测量轮廓精英使用增强成像功能。
Contour Elite X系统拥有业界最大视场的最佳横向和垂直分辨率，垂直范围从亚纳米到10毫米以上。它包括研发100项屡获殊荣的AcuityXR测量技术，能够打破光学测量中的衍射限制。此外，该系统可以利用一个百万像素摄像头，提高X-Y空间分辨率。大视场和从1X到115X的客观放大倍率使表征范围极广的表面形状和纹理。
快速、无损成像
轮廓精英X轮廓仪是一种非接触式系统，具有一个大的阶段，使您的样品或零件完好无损。我们的专利白光干涉测量(WLI)技术可以获得亚纳米精度的高度数据，不依赖于所使用的放大倍数。这意味着，即使在一个毫米平方的图像区域内采样超过一百万个数据点，用户也能够在几秒钟内收集到高分辨率的高度数据。
