SOLUCIONES光谱仪

毫升+

Análisis de Capas Finas y Multicapas mediante XRF

El espesor de capa y composición química de muestras multicapa pueden ser fácilmente determinados con Fluorescencia de Rayos X (XRF)。随着时间的变化,随着时间的变化espectrómetro日晷仪Dispersión日晷仪S8老虎

毫升+amplia光谱+para análisis de muestras con una sola capa o multicapas con Fluorescencia de Rayos X por Dispersión de longitude de Onda (WDXRF)。Permite la determinación直接观测和观测composición de muestras recubiertas desde varias capas atómicas (menos de 1 nm) hasta el rango deµm e incluso de mm。

毫升+usa la aproximación por Parámetros Fundamentales para todos los cálculos。La determinación de espesor y composición en ML+está basada en la calibración无标准de ESPECTRA+,体育没有se requiere ningún patrón estándar多apa。罪恶的禁令,cualquier patrón estándar我们有很多不一样的想法。

毫升+Puede ser usada para evaluación automática después de cada medida individual una vez configurado el modelo。以permite tenible el análisis多apa para控制的过程中,p.e.en la producción de vidrios o aceros recubiertos。