半导体解离子

Bruker半导体desarrolla, fabrica，商业化和数据处理a soluciones de metrología para películas delgadas que se basan en una tecnología de rayos X novedosa, rápida, sincontact to y无损。Con la adquisición por parte de Bruker de Jordan Valley Semiconductors, un nombre sinónimo de sercicio y asistencia al client mondial inigualables, el 75% de serinticinco principales de半导体mondo confían en las herramientas de metrología de Bruker para aplicaciones前端和后端，incluendo el desarrollo de sus películas finas de última generación。我们的折中方案innovación我们的经济发展计划tecnológico我们的经济发展计划metrología我们的工业发展计划。

参考资料caracterización材料资料películas德尔加达斯哈斯达尔análisis布鲁克结构detección缺陷，布鲁克结构比例análisis simulación调整。Los tipos de medición HRXRD, XRR, WA-XRD y XRDI son总相容物，lo que permite a Los investigores, ingenieros de producción y desarrolladores de procesos disponer de capacidades sin igual。半导体制造技术，学术研究中心instalación de investigación de materiales industriales, Bruker tiene una solución específicamente diseñada para sus esidades metrología。