级控制

能量色散x射线荧光(XRF)是矿山和选矿设施中最可靠的品位控制方法。布鲁克的XRF分析仪允许同时分析鉴定品位、次品位和废物所需的元素浓度。布鲁克的解决方案专注于实现整个采矿价值链的价值最大化和风险降低，从矿山现场便携式XRF分析到高通量品位控制和杂质工作流程。解决方案包括:

• 高容量台式电脑S2彪马系列2能够从C到Am进行分析，可选择1个，12个和20个样品转换器。

• 的CTX一种新型便携式单样品坚固台面XRF，配有备用电池，可分析从Mg到U

• 的S1泰坦手持式XRF与可选的安全互锁台式支架，最灵活地分析从Mg到U

波长色散XRF (WDXRF)提供了最高的准确性和最低的检测限制，特别是在复杂的矿石中。WDXRF使用x射线光学将荧光分散到每个元素的单独波长。所得光谱具有低背景，并消除了大多数元素重叠。该技术对品位控制应用至关重要，其中微量元素或元素有许多重叠是重要的。布鲁克的WDXRF解决方案

• 的S8狮子作为多通道WDXRF提供最快的结果时间。同时分析多达16种元素，用于高通量等级控制和杂质应用，需要低检测限的精度。

• 的S8老虎系列2是一个强大且易于使用的顺序WDXRF，能够在一次运行中提供主要和痕量元素。S8 TIGER提供了对采矿或库存管理的苛刻和多样化监督所需的分析灵活性。

• 的S6捷豹是一种紧凑的WDXRF，体积小，速度快，足以部署到矿场实验室，但功能强大，足以满足最苛刻的品位辨别需求。

复杂矿石通常需要矿物鉴定作为品位控制工作流程的一部分。例如，高岭石可以代替铁矿中的针铁矿，但不能直观识别。在将品位块分配给高品位、低品位或废石时，量化矿物组合也是可取的。结合聚类分析的快速x射线衍射(XRD)是一种新兴的矿物级控制和杂质分析工具。当矿物组合是品位控制的关键鉴别器，而大宗元素或矿物含量并不能说明全部情况时，自动化矿物学就会介入，为矿物加工提供额外的关键信息。布鲁克的矿物学品位控制解决方案包括:

• 氨的是布鲁克用于扫描电子显微镜的自动化矿物学解决方案。AMICS自动收集后向散射电子和EDS x射线点，绘制矿物图，计算锁定、释放和模态矿物学。

• 的D2移相器在一个紧凑的桌面包中以品位控制分析所需的速度提供XRD分析。

• 的DIFFRAC。套件™软件提供了品位控制和品位分类定量分析所需的所有工具。PolySNAP模块提供聚类分析，而TOPAS软件允许剖面拟合和定量Rietveld分析。