椭圆计和反射计

专有和专利技术进行光谱椭圆光度法和反射计,多角度反射计,reflection-transmission分光光度法,力量广泛FilmTek™产品线可以更精确和可重复的测量更多的电影类型和厚度比同类仪器。设计高效,操作按钮,这些工具让用户快速、准确、无损测量薄膜厚度和折射率,除了临界尺寸基板的结构和总厚度变化,在一个广泛的单和多层膜层厚度从超薄(到< 1)很厚(350μm)。可测量的样品包括等金属、半导体、无定形、水晶,电介质材料在任何衬底。雷竞技网页版

FilmTek椭圆光度法和反射计系统中可用的各种标准和可定制的配置,从手动台式仪器全自动production-line-ready模型。这些包括技术和多通道系统,结合我们的核心技术和增强他们的能力通过额外的技术集成。与安装系统在世界顶级开发实验室和工业生产地板,这些计量工具拥有最高的准确性和折射率分辨率对于许多厚,薄,多层膜的应用程序与其他计量系统不可行,适合用于设置从学术研究和研发到大批量生产在受控环境。