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力量宣布DektakXT,针术的新标准

2011年3月21日

10th代手写笔分析器首次实现Sub-Five-Angstrom重复性高达百分之四十,同时提供更快的扫描性能

亚利桑那州图森市。2011年,3月21日(业务线)——力量今天宣布DektakXT (TM)一种革命性的新笔分析器,是第一个生产系统持续五岁以下埃的可重复性。这个主要里程碑笔分析器表面计量性能的高潮Dektak四十遗留的创新。

第十代Dektak (R)系统,DektakXT功能其他笔分析器历史上“第一次”,包括一个独特的、“单孔”设计与增强的计量特性,第一个64位,并行处理软件架构(力量强大的和直观的Vision64 (TM)操作和分析软件)和第一真彩色,高清分辨率的相机。这些新功能支持DektakXT提供行业领先的纳米膜厚度和表面纹理与改进计测量重复性和40%更快的扫描性能。DektakXT为范围广泛的计量应用程序提供了最优结果的组合可重复的纳米尺度测量,吞吐量和低总体拥有成本是至关重要的。

“在过去的四十年,Dektak已经成为最值得信赖的名字在纳米技术行业,”马克·r·蒙克说博士,总统,力量纳米表面。“最佳吞吐量和记录设置乘以五埃计可重复性,DektakXT生命的力量遗留创新提供前所未有的性能,精度和价值,再一次笔分析器系统设置酒吧。”

“DektakXT结合了前九代的最好特性和实质性的改进,包括新的单孔设计,Vision64软件,低噪声地板技术和集成的可伸缩性,”罗斯问:史密斯补充道,副总裁和总经理力量的手写笔和光学计量业务。“我们预料DektakXT增强的能力和价值就会让下一波纳米材料科学创新和生产作为其前辈。”

广泛应用于微电子、半导体、显示器、太阳能、高亮度LED,医学、科学和材料科学的市场,Dektak笔分析器是一个至关重要的精密计量仪器中发现上百生产、研究和失效分析设备在世界各地。雷竞技网页版Dektak系统采用2 d轮廓测定法和三维表面分析应用程序高度测量纳米薄膜厚度和步骤,2 d和3 d表面压力和其他关键参数,研发是至关重要的,过程开发和质量保证与质量控制(QA / QC)应用程序。拥有近一千Dektak和大约一万Dektak家庭系统售出150部迄今为止,Dektak已成为事实上的标准针分析器为材料科学行业的品牌有前所未有的客户忠诚度和重复的代名词,可靠的纳米计量。

关于DektakXT

DektakXT包含了最好的特性从先前Dektak系统,增强与分水岭创新进一步艺术笔profiler的状态。以其革命性的设计和“smart-electronics”实现“单孔”,DektakXT特性较低噪声地板和提高精度,使系统维持sub-five-angstrom(< 0.5海里)重复性的人物。DektakXT还有一个新的扫描子系统和/ 10光学平面参考,使改进的基线稳定性高达百分之四十更快的扫描速度,同时保留Dektak系统准确度的传奇。现在配备Vision64 DektakXT是第一笔分析器功能一个64位的,并行处理软件架构,大大加速了数据采集和分析,同时提供超过200个不同的分析。也是第一笔分析器支持高清,真彩色增强照相机分辨率和图像清晰的样品表面。最后,DektakXT雇佣Dektak独特的单一传感器头设计最佳扫描灵活性和“简单技巧交流”功能,能够快速交换笔提示地址范围广泛的应用程序。

DektakXT SVC TechCon 2011

DektakXT将力量409号展位的社会真空镀膜机(SVC) TechCon 2011在芝加哥,IL), 2011年4月19日至20日,。有关DektakXT的更多信息,或者安排一个演示或在SVC预约,请致电+ 1 (520)741 - 1044 ext。3,电子邮件(电子邮件保护)或访问www.bruker-axs.com

关于力量的公司(纳斯达克:电流断路器)

力量公司高性能科学仪器和解决方案的领先供应商的分子和材料的研究,以及对工业和应用分析。雷竞技怎么下载雷竞技网页版关于力量公司的更多信息,请访问www.videcame.com

照片/多媒体画廊可用:www.businesswire.com/cgi-bin/mmg.cgi?eid=6651380&lang=en

来源:力量公司

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类别: 新闻稿
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