三维光学轮廓仪

contourx - 100

流线型和负担得起的台式粗糙度测量

Punti salienti

contourx - 100

ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格点为精确和可重复的非接触式表面测量设定了新的基准。该系统占地面积小,采用流线型封装,具有无与伦比的2D/3D高分辨率测量能力,融合了布鲁克数十年的专有白光干涉测量(WLI)创新技术。下一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的平台,用于更大的拼接能力,以及新的测量模式USI,为精密加工表面,厚膜和摩擦学应用提供了更大的便利性和灵活性。您将找不到比ContourX-100更有价值的台式系统。

业内
Z的决议
提供恒定,精确的测量,独立的放大。
无与伦比的
计量值
提供流线型设计而不损害测量能力。
用户友好的
软件界面
提供直观的访问广泛的预编程过滤器和分析库。

Caratteristiche

特性

无与伦比的计量

WLI为所有目标提供恒定和最终的垂直分辨率。

ContourX-100轮廓仪是四十多年专有光学创新的高潮,在非接触式表面测量,表征和成像方面处于行业领先地位。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多次分析。ContourX-100在反射率为0.05%至100%的所有地面情况下都很稳定。

无与伦比的价值与分析

ContourX-100手动工作台。

凭借数千种定制分析和布鲁克简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,ContourX-100台式针对实验室和工厂车间的生产力进行了优化。硬件和软件相结合,提供了顶级高通量光学性能的流线型访问,完全超越了可比的计量技术。

Applicazioni

应用程序

具有特定应用解决方案的表面无关计量

精密工程

保持精密工程零件的表面纹理和几何尺寸在严格的规格限制内。当您监控、跟踪和评估流程并评估GD&T一致性时,我们的测量系统提供有效的反馈和报告。

MEMS与传感器

执行高通量,高度可重复的蚀刻深度,薄膜厚度,台阶高度和表面粗糙度测量,以及MEMS和光学MEMS的先进关键尺寸测量。光学轮廓可以在整个制造过程中从晶圆到最终测试,甚至通过透明封装来表征器件。

骨科、眼科

在整个产品生命周期内获得植入材料和组件的精确,可重复的测量。雷竞技网页版我们的WLI光学分析器支持研发,质量保证和质量控制分析,应用范围从透镜和注射模具表面参数的表征到表面光洁度验证和医疗设备的磨损。

摩擦学

测量、分析和控制摩擦、磨损、润滑和腐蚀对材料/部件性能和寿命的影响。确定定量磨损参数,并对最广泛的光泽,光滑或粗糙表面进行快速合格/不合格检查。

半导体

通过自动化、非接触式、晶圆级计量系统,提高产量并降低前端和后端制造过程的成本。进行cmp后模具平面度检查;凹凸高度、共平面度、缺陷识别与分析;并对构件结构的关键尺寸进行测量。

光学

通过精确和可重复的亚纳米粗糙度测量,更好地了解缺陷的根本原因,并优化抛光和精加工工艺。我们的非接触式计量系统能够满足越来越严格的规格和ISO标准,样品范围从小型非球面和自由形状光学元件,到复杂几何形状的光学元件,再到衍射光栅和微透镜。

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