Bruker Nano Analytics介绍:

多尺度原位无损微xrf扫描分析:对矿石矿物学、岩石成因和微观冶金评价的启示

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地质样品微x射线荧光分析

地质样品的微观分析是普遍的做法,它提供了各种尺度的有价值的信息,例如在矿物勘探和工艺矿物学方面。勘探过程和随后的冶金理解发生在不同数量级的尺度上。这一链条中的一个重要环节是从现场收集的样本到实验室分析的过渡。micro-XRF连接了这些具有挑战性的观测尺度,使微观分析解释能够轻松地与现场样品联系起来(即视觉上),并能够选择适当的样品进行更详细的微观分析,这通常是昂贵和耗时的。

在本次网络研讨会上,我们将介绍使用几何冶金方法表征富钴样品的实例,该方法采用地质分析技术来实现多尺度、多模态和多维信息。本研究的重点是将micro-XRF作为整个工作流程的关键组成部分,从放大和缩小的角度分析钻芯截面及其解释。最终的结果是商业矿物学的新视角,包括矿石和脉石矿物的解放细节。

谁应该参加?

  • 每个人都从商业和研究的角度处理地质、采矿、冶金和矿物加工应用

岩心元素超图以感兴趣元素Fe、Co、As、Cu为重点
来自同一钻芯的矿物学信息突出了硫化钴、林奈铁矿的粒度信息

演讲者

安德鲁·孟席斯博士

高级应用科学家地质学和采矿,布鲁克纳米分析

Alan R. Butcher教授

地质材雷竞技网页版料与应用矿物学,芬兰地质调查局