ft-ir分光計

INVENIO®

特長

ル,チン分析から研究開発用までサポ,トする先進のft-ir分光計

Ft-ir分光計invenio®

INVENIO®

INVENIOは,品質管理を目的とした日常的な分析から研究開発の分野における高度な測定まで,広範な目的に適合できるよう設計された1台です。生産性や測定精度を重視する場合,あるいは幅広い規制へ準拠が必要な場合など,すべての場面においてINVENIOがお客様をサポートします。

ブルカ,の革新技術によるメリット

  • 新設計により最適化されたハaapl . aapl . com / n
  • 一体型タッチパネルPCによるシンプルか効率的な操作性(オプション)
  • 第2透過試料室Transit™オプションにより2の測定法を並行して使用可能
  • 新規SoCエレクトロニクスが分光精度と低エネルギ,消費を実現
  • 6000 cm - 1から80 cm - 1まで一度の測定でカバーする独自の力量调频テクノロジー
  • multiect™テクノロジ,により5台の検出器を搭載,最大7台の内蔵検出器を利用可能
  • 遠赤外から紫外/可視領域まで拡張可能な測定範囲と,時間分解測定等の対応

さまざまな要求に対応するinvenio

invenioは,お客様のさまざまなアプリケ,ションをサポ,トします。新たな分析ニ,ズが必要とされる場合も幅広く対応し,日常的な分析タスクに必要な強固な基盤となります。

優れた感度

最先端のシステムオンチップエレクトロニクスにより制御される革新的かつ効率的な光路設計と高精度の光学系により,INVENIOは最高性能を提供し,わずかなスペクトルの違いも確実に捉えます。

パワフルなソフトウェア

振動分光分析における最もパワフルなソフトウェアソリュ,ションである作品は,測定手順を簡単にし,ft-irの初心者からエキスパ,トまでをサポ,トします。幅広いメソッド作成ル,および,評価のための幅広い解析機能を提供します。

バリデ,ション環境へ対応

INVENIOは,規制対象となる医薬品ラボにおける機器のバリデーションに対応するために,完全自動化されたPQ(性能適格性評価)およびOQ(運用適格性評価)ルーチンを用意しています。

実績ある品質

ブルカーは,耐久性の高いハウジングからパーマネントアライメントのRockSolid™干渉計まで,あらゆるコンポーネントに最高の材料のみを使用しています。Invenioは耐久性に優れ,長期にわたり安定した使用が可能です。

無限の拡張性

  • 装置導入後のアップグレ,ド,スペクトル範囲の拡張
  • ステップスキャン,ラピッドスキャン,ンタリブ式時間分解分光法
  • 遠赤外から紫外/可視領域までのすべてのスペクトル範囲をカバ
  • 簡単な操作で交換可能なアクセサリ,検出器,ビ,ムスプリッタ,
  • tga,赤外顕微鏡,発光分析など豊富な外部拡張モジュ,ル
  • ftラマンモジュル
  • GMP, GLP, 21CFR part 11に準拠

幅広い分析法

INVENIOはほぼ全ての試料に対応しており,サンプリングアクセサリの切り替えも迅速に行うことができます。さらに,第2透過試料室を設けることにより,2の実験系を並行して使用することができます。

操作手順の簡易化

常に最適な測定パラメータを確保するために,中心となるすべてのデバイスコンポーネントは電子コード化されています。さらに,オプションの一体型タッチPCはきわめて直感的に使用でき,最先端の接続機能を備えています。

本製品に使用されている技術は,以下の特許により保護されています。我们7034944

厳しい品質管理ニ,ズに対応invenio

ルチン&qc

ft-ir分析

Invenioにより日常的な分析タスクが容易になります。オプションのタッチパネルPC,ワイヤレス接続機能,優れた分光性能,革新的なSoCエレクトロニクス,長寿命コンポーネントは,INVENIO独自の機能のほんの一例です。

より良質で,よりスマ,トな操作性

INVENIOのタッチパネルPCオプションは,直感的なユーザーインターフェースとスマートな接続機能を提供します。ラボで測定し,解析はオフィスで行うことができます。いずれもケ,ブルや手作業によるデ,タ転送は不要です。事前に定義されたワークフローは,機能性が損なわれないように保たれる一方で,オペレータの手間を最小限に抑えます。

高い信頼性,効率性,生産性

基本的なQC / QA分析から研究開発アプリケーションまで,標準的なATR測定はもちろん,角度可変反射ユニットやイメージング顕微鏡などを用いた高度な測定においても,直感的な操作で適切な測定結果が確実に得られます。

ンテリジェント性能

性能警卫队™はすべてのコンポーネントの継続的な監視を通じて最適な機器性能を保証する一方,PermaSure™は常に適切な機能を保証するためにデバイス構成と迅速な自己診断を監視します。

新たな提案

専用の米尔DTS検出器を搭載する独立した第2試料室交通™チャンネルオプション(透過またはATRに対応)を増設することにより,2つの測定環境を維持することができ,アクセサリ交換などの時間を大幅に短縮することが可能になります。

指先でft-ir分光分析を

Windows, ALPHA, INVENIOに接続可能なOPUS TOUCH

規制とコンプラ@ @アンス

  • 自動oqおよびpq
  • グロバル監査証跡とスマトアカブ
  • 21 CFR part 11を含むGMP/GLP, JP, Ph。欧元およびUSPに完全準拠

容易な拡張性

  • 赤外顕微鏡および赤外▪▪メ▪▪ジングシステム(hyperion)
  • ハ屏屏屏ハ屏屏屏屏プットスクリ屏屏屏ニング(hts-xt)
  • タンパク質水溶液分析(confocheck)
  • 熱重量分析(tga)

一体型タッチPC

  • 事前に定義したワ,クフロ,による迅速な分析
  • ft-ir初心者に最適
  • Ft-irエキスパ,トからは制限のないアクセス
  • ワ@ @ヤレス接続機能

最高のソフトウェアソリュ,ション

  • opusソフトウェアは振動分光分析用のオルンワンソリュション
  • 直感的なル
  • 豊富なスペクトルラ@ @ブラリ

利点

リサ,チ用赤外分光計

研究開発

  • 遠·中·近赤外から紫外/可視領域までの全スペクトル範囲をカバ
  • 最高波数分解0.085 cm-1以上
  • ラピッドスキャンでは1秒あたり最高70本を超えるスペクトルを取得(波数分解16 cm-1にて)
  • ナノ秒の時間分解能を実現するステップスキャン時間分解法
  • 新しい光路設計による高いs / n
  • 最大7台の内部検出器を制御
  • 最大2個の入力ポトと3個の出力ポト
  • 試料に適合する豊富なアクセサリ
  • 高度な測定系に対応する多種多様な外部モジュ,ル
  • スペクトル品位をさらに向上する高精度のエレクトロニクス

発見,開発,パesc escオニア

Invenioは研究開発を目的とするアプリケ,ションにも適応しています。MultiTect™、力量调频ラピッドスキャン,ステップスキャン,インターリーブ式時間分解分光法,交通™チャンネルなどの機能は,条件の厳しいさまざまな研究をサポートします。

ユニ.ク&エキサ.ティング:MultiTectTM

INVENIOは,最大5台の室温または温度安定化検出器を搭載できる独自のMultiTectテクノロジーが特長です。マニュアル操作によるコンポーネントの交換なしで,80 ~ 6000 cm - 1および4000 ~ 28000 cm - 1をカバーする広域スペクトルを取得することができます。オプションのDigiTect™スロット(液体窒素冷却型検出器)と交通™検出器を合わせると,最大7台の内蔵検出器を利用できます。

布鲁克FM:光学部品を替えずにワンショットで

力量调频テクノロジーは,一度の測定で中赤外から遠赤外領域まで(6000 ~ 80 cm - 1)のスペクトルデータを取得します。光学部品の交換やスペクトルのマ,ジ処理など,煩雑な操作は一切不要です。

労力を必要としない精度:integraltm干渉計

自動3ポジションビームスプリッタ(BMS)チェンジャーを備えた新しい摩耗のないINTEGRALTM干渉計は,力量のMultiTectTM技術に完全に対応しています。MultiTectTMおよびソフトウェア制御ソースオプションと組み合わせることで,冷杉からVIS / UVまでの全スペクトル範囲を完全に自動化でき,光学コンポーネントを手動で交換する必要はありません。

時間分解測定メソッド

ステップスキャン,ラピッドスキャン,ならびにインターリーブ方式による時間分解分光法は,カイティクス解析におけるキーとなります。例えば,溶液中の化学反応の動的解析であればラピッドスキャン法,あるいは可逆性反応のナノ秒時間分解分析はステップスキャン法というように,反応系に適した手法を選択することで,さまざまな研究課題の解決に役立ちます。

比類ないシステム@ @ンテリジェンスと無数の拡張機能

電子コード化された窓板,内蔵アテネータホイール,エミッションバイパス光路,8ポジションバリデーションホイール,タッチ式操作オプションなど,INVENIOのスマート機能によるメリットを赤外分光分析に活用することができます。赤外顕微鏡,ラマン,PLモジュール,TGAカップリング,拡張外部試料室などの拡張機能を使用することで,INVENIOの価値をさらに高めることが可能です。

アプリケ,ション

invenio®のアプリケション

傅立叶变换红外光谱には無数のアプリケーションがありますが,感度,波数分解能,時間分解能,安定性,柔軟性,拡張性が求められるすべてのシナリオにおいてINVENIOは完全に適合します。あらゆる産業と研究用途において,日々の分析経験の向上をサポ,トします。

品質管理

  • 原材料の受け入れ検査
  • 製品の欠陥解析,トラブルシュ,ティング
  • 汚染物質の同定

原材料の特性評価

  • 揮発性成分の測定
  • 分解プロセスの評価
  • 光学材料の評価

半導体

  • シリコンウェハ中の酸素および炭素含有量の測定
  • 近赤外領域でのフォトルミネセンス測定

研究開発

  • 時間分解分光法
  • Ft-ir分光電気化学
  • 低温実験
  • Ft-ir顕微分析およびaapl . exeメ
  • 原位反応モニタリング
  • 振幅変調(am)分光法

医薬品·ラ

  • 医薬品の安定性および揮発性成分の評価
  • 医薬品有効成分の結晶多形の識別
  • タンパク質の立体構造および定量分析
  • 微生物の同定

高分子および化学

  • 高分子複合体の無機充填剤の同定
  • 無機鉱物および顔料の同定
  • 多層分析
  • 組成調査
  • 反応モニタリングおよび反応制御
  • 高分子の動的および流動光学的研究
  • さまざまな応用分野でのftラマン

環境

  • 汚染のモニタリング(マaapl .クロプラスチックなど)
  • 土壌の特性評価

仕様

特長

invenioには魅力的な革新技術が凝縮されています。工業分野から科学分野まで,あらゆる分析における問題に対して普遍的なソリュ,ションを提供します。

堅牢な干渉計

RockSolidTM干渉計は,最適なアラ。摩耗フリーのピボット機構と高スループット光学配置が,過酷な環境においても卓越した感度,安定性,信頼性を保証します。

信頼性の高い光源

CenterGlowTMは,中赤外光源の消耗状態を管理するブルカーの技術で,最適なパフォーマンスを維持しつつ,光源の長寿命化を可能にしています。内部光源と外部光入力ポートがそれぞれ二つあり,いずれの光源も共通の内部アパーチャホイール(J-stop)を通過する設計となっています。

広範なスペクトル領域-积分TM

信頼性と快適さ。革新的な积分™干渉計は,高精度のキューブコーナーミラーと,アクティブアライメント機能を備えるビームスプリッター交換機構を最大の特長としています。5ポジションのMultiTect™検出器切替機構とDigiTect™検出器,光源切替機構を組み合わせることにより,光学コンポーネントを手動で交換することなく,28000 cm - 1から15 cm - 1にわたる広範な分光領域を最適なパフォーマンスでカバーします。標準の臭化カリウム(KBr)をはじめ,フッ化カルシウム(CaF2),石英,多層マイラー,シリコンなど,さまざまなビームスプリッターが利用可能です。MultiTect™テクノロジーにより,壳体,InGaAs, Siダイオードおよび差距など,5台の室温型および熱安定化検出器を使用できます。さらに,DigiTect™スロットには液体窒素冷却型検出器などを使用できます。これらのユニットはソフトウェアで制御されており,遠赤外,近赤外,および,紫外/可視領域の測定を行い際は自動的にアクセスできます。

いでもアップグレド可能

INVENIOに用意されるすべてのオプション機能は,分析ニーズが変化して新しい機能が必要になったときに追加することが可能で,いつでもシステムをアップグレードすることができます。

サンプリングの柔軟性

サンプルアクセサリの着脱を容易にするQuickLockアクセサリマウントは,新たにロック/リリースボタンが追加され,さらに操作性が向上しています。またINVENIOには,外部サンプリングモジュール接続用に干渉光出射ポートを3つ設けることができ,それらの切り替えもソフトウェアによる簡単操作が可能です。

  • Hyperionシリ,ズft-ir顕微鏡
  • 顕微およびマクロfpa
  • Ram ii ft -ラマンおよびフォトルミネセンスモジュ,ル
  • tga-ft-irカップリング
  • 光路のカスタマ@ @ズが可能な外部試料室
  • 固体または液体用ファ▪▪バ▪▪プロ▪ブおよびファ▪▪バ▪▪カップリングユニット
  • 外部積分球ユニット
  • 液体試料用オ,トサンプラ
  • hts-xt,ハスルプットスクリニングモジュル
  • 気液界面反射ユニット
  • その他

ニュス&ベント

OPUS发布8.7 | INVENIO | Q3 2021

新機能:ovp-x(強化されたopusバリデ,ションプログラム)

8.7作品では,OVP-Xが、傅立叶变换红外分光計INVENIOの現在のOVPルーチンを引き継ぎます。Ovp-xを用いて,ft-ir分光計invenioの校正,テスト,および認定を行います。INVENIOの全測定チャンネルの校正および認定管理を,包括的かつ信頼性高く,簡単に行うことができます。

  • 新しいアクセサリや拡張機能のセットアップをより迅速か容易に
  • 測定チャンネルのセミオ,トセットアップで生産性向上


新機能:OPUSにPythonスクリプトaapl .ンタ.フェaapl .スを実装

Pythonスクリプトを作成・実行し,ユーザーベースのメソッドを作品上で直接開発することが可能になりました。これにより,ユ,ザ,はPythonをベ,スとした独自の解析ル,チンを作成することができます。Pythonは産業界や科学業界においてプログラミングの標準として広く取り入れられており,ユーザーは分析ツールセットを高度に制御することが可能になります。

  • 分光計ソフトウェアOPUSでPythonスクリプトを直接作成し,実行可能
  • アプリケ,ション専用の解析ル,チンを開発し,opusで使用可能

新機能:マルチスペクトルレンジ測定機能

INVENIO独自のMultiTectテクノロジーと,高精度ビームスプリッタ自動切替機構を搭載する积分干渉計(オプション)を活用し,マルチスペクトルレンジ測定を高度に自動化するネイティブ作品機能。遠赤外域から紫外·可視域まで全自動で測定し,最終的に1本のスペクトルにマ,ジすることが可能です。このソフトウェア機能は,顶点分光計でも利用可能です。

詳細

資料ダウンロ,ド

当社のft-ir分析装置とソリュションの詳細にいては,こらから資料をご確認頂けます。