ハesc escジトロンpi 95
透過型電子顕微鏡(TEM)中で行う定量的原位ナノ力学特性評価モデル
ハ▪▪ラ▪▪ト
ハaapl . exe PI 95 temピコaapl . exeンテンタ
ブルカーのHysitronπ95 TEM PicoIndenter(ハイジトロンπ95 TEMピコインデンター)は,透過型電子顕微鏡(TEM)内でナノ力学試験を直接観察できる装置です。現在および将来の幅広い材料研究のニーズにお応えできるように,π95には加熱測定,電気特性評価,トライボロジー(スクラッチ)測定など,様々なアップグレードオプションを取り付けることができます。
temで見る
深度感知ンデンタ
tem装置内で像を直接観察しながら、ナノ力学特性評価試験が可能
最新
高度な制御モジュ，ル
78千赫のフィードバック・レートと38 kHzまでのデータ・アクイジションを提供し,転位バーストなどの過渡的なイベントを捕捉します。
正確
チップ位置決めと機械的試験
3軸ポジショナ,3 d圧電アクチュエータ,静電作動および容量性変位センシング用の高度なトランスデューサが含まれています。
特長
Tem向けのカスタマ转换器ズされたソリュ转换器ション
π95范は日立,日本電子,蔡司製の多くのTEMに適応できるようにインターフェイスが設計されています。そのため,TEMにてナノスケールの材料の力学応答を画像化しながら,同時に定量的な力学測定データを取得することができます。ビデオインターフェースを用いることで,荷重——変位曲線のデータとTEMビデオのデータを同期することが可能です。
ナノスケ，ルの材料特性を直性見る
圧縮前後のNiナノピラ，の暗視野TEM画像。柱に最初に見られた高転位密度は圧縮時に消失した。自然材料7、115-119(2007)。
PI 95はナノスケルの力学現象の調査に極めて適しているルです。転位バースト,相変態,はく離,せん断帯形成,破壊開始など力学試験において荷重または変位の変化が生じる事象は様々ありますが,TEM中でナノ力学試験を実施することにより,これらを明白に区別・把握できます。
高いパフォ，マンスを実現
例1μNスクラッチ試験:(1)正常および横向きの荷重および変位対時間および(2 - 5)の先端の先端の前にDLCフィルムの座屈および穀物の上部の保証の平坦化を示す原位TEMビデオからの対応するフレーム。
ハイジトロンPI95は,圧子・測定箇所の位置決めのために,3軸粗動ポジショナーと精密位置決め用の3 d圧電アクチュエーターを採用しています。また,正確な力学試験のために,静電容量型トランスデューサーと定量的な測定データを取得する静電アクチュエーターを搭載しています。
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