元素分析薄膜和涂料

有许多方法来使用红外光谱化学识别电影和涂料。透光率、衰减全反射(ATR),时时刻刻角反射(GIR)或红外反射吸收光谱(IRRAS)、偏振调制IRRAS (PMIRRAS)。根据膜厚度,光学性质和支持基质不同的测量模式(s)可以优先应用。

金属涂层作为环境壁垒,积极保护退化的基础材料。在工程和建筑材料应用于结构金属和合金。雷竞技网页版光学设备,它们是用作在前灯反射镜子和镀银。金属涂层也发现在眼镜等日常用品,餐具、手表、珠宝和玩具。这些涂料的性能很大程度上取决于他们的厚度、晶体结构、化学成分和机械耐力。力量提供了一个广泛的分析工具对电子显微镜或作为独立促进此类涂料的发展。例如与micro-XRF为定量分析金属多层堆栈的成分和涂层厚度。和电子显微镜分析(EDS、EBSD WDS)快速和可靠的定量化学和结构分析。

纳米材料雷竞技网页版通常在透射电子显微镜(TEM)研究。然而,它可以定量表征纳米材料的利益大视场的扫描电子显微镜(SEM)。雷竞技网页版的轴上跆拳道技术开发这一目标;它现在是一个建立SEM-based方法生产使用EBSD取向分布测量在纳米尺度上的硬件。在这个应用程序示例中,金和铂薄膜的取向分布测量e-Flash FS探测器retroffited与擎天柱跆拳道FEG-SEM头。实现高速跆拳道测量探针电流较低(< 3 nA)允许克服光束漂移和实现超高空间分辨率:在20分钟内超过1000粒测量最小的粒度是20 nm和超细特性,比如双边界(3海里)解决。