XFlash^®7 -新EDS探测器系列

元素分析

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能量色散谱扫描电镜,FIB-SEM和电子探针

XFlash^®7 - EDS探测器扫描电子显微镜

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量化使用最全面最复杂的数据包括原子数据库。K, L, M和N行!

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元素分析透射电子显微镜在纳米尺度上

XFlash^®7 t - TEM的EDS探测器,阀杆和T-SEM

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成功在TEM,阀杆和T-SEM易于使用的强大的量化程序基于理论和实验Cliff-Lorimer因素,以及Zeta-factor插值!

地图周期结构(原子层)与高稳定和舒适的非周期特性支持专用的漂移校正程序!

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웨비나

在线研讨会

点播会话- 41分钟

与XFlash提高效率^®7 EDS检测器的家庭

在这个网络研讨会,我们现在新XFlash福利和增加效益^®7系列探测器提供。我们还介绍了工作流的Esprit LiveMap允许用户进行实时化学成像。

点播会话- 35分钟

介绍了XFlash^®7 EDS探测器

在这个网络研讨会我们现在这个新的探测器系列的好处并讨论细节显微镜探测器几何图形。我们也显示数据采集和分析的例子在不同领域的应用。

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