顶点80/80v

스펙트럼범위확장

顶点80/80v는선택적으로광성분을장착하여먼红外또는테라헤르츠에서스펙트럼범위를커버하고,红外중과근교를통해,눈에보이는자외선스펙트럼범위까지장착할수있다。사전정렬된광학부품과능동적으로정렬된UltraScan™간섭계를통해범위변경및유지보수가용이합니다。

BMS-c:브루커는顶点80 v진공분광계에대한고정밀빔스플리터교환옵션BMS-c를제공합니다。

따라서진공조건에서최대4가지유형의빔스플리터의원격제어자동교환이가능해졌습니다。이제UV / VIS에서먼IR /太赫兹에이르는완전한스펙트럼범위는수동빔스플리터교환을위해분광계광학벤치를배출할필요없이측정할수있습니다。

신규:브루커는顶点80/80v红外분광계시리즈에대한새로운광대역远红外线/太赫兹빔스플리터로빔스플리터의사용가능한범위를확장했습니다。특히반전도및추가무기재료의연구및개발을위해새로운远红外线고체상태빔스플리터는900厘米^－1이상에서appr까지스펙트럼범위를명목상으로커버하기때문에추가값을제공합니다。한측정에서5cm^1을측정하고매우긴파온기류FIR / THz파장범위와중간IR을연결합니다。

광학해상도

顶点80및顶点80 v표준구성은대부분의주변압력가스상연구및실온샘플측정에충분한^{0.2cm-1보다}더나은스펙트럼분해능을제공합니다。고급저온작업의경우,예를들어하압에서결정성반도체재료또는가스상측정에대해^－10.06cm-1보다더나은피크해상도를사용할수있습니다。이것은상용벤치상단红外분광계를사용하여달성된가장높은스펙트럼해상도입니다。가시스펙트럼범위의고해상도스펙트럼은300000:1의해결전력(스펙트럼해상도∆θ)으로나눈파수(파수)를보여줍니다。

다양성

혁신적인광학설계로가장유연하고확장가능研发진한공红外분광계가제공됩니다。대피광학벤치와함께,중,근거리및먼红外지역의峰值감도는공기수증기흡수에의해매우약한스펙트럼특징을마스킹의두려움없이얻을수있습니다。뛰어난결과,예를들어나노과학연구의영역에서三分미만단층까지,顶点80 v진공红外분광계로얻을수있다。유연성에대한제한은거의없습니다。오른쪽,전면및왼쪽에있는5개의빔출구포트와광학벤치의오른쪽과후면에빔입력포트2개를사용할수있습니다。이를통해예를들어,후방입력포트를이용한싱크로트론광원,오른쪽출구빔의PMA 50편광변조액세서리,오른쪽전방포트에서광섬유커플링,왼쪽전방의볼로미터검출기,왼쪽출구빔의HYPERION시리즈红外현미경의동시연결이가능합니다。

顶点80시리즈는까다로운연구개발응용분야에이상적도구입니다。

VERTEX 80/80v에대해자세히알아보려면오늘업팀에문의하십시오!

사용되는기술은다음특허중하나이상으로보호됩니다:us 7034944

顶点80및顶点80 v분광기시는顶点리즈의고급연구를위한장비입니다。혁신적광학설계로해가장강력한벤치탑퍼지및진공분광기가제공됩니다。UV/VIS역(50000cm^-1)에서FIR/THz:역(5cm-1)，최고스펙트럼^－1및시간적해상도및타의추종을불허하는유연성을제공합니다。다목적顶点80/80v시스템은峰值기술을모든고급연구애플리케이션에적합한솔루션을제공합니다。

연구 개발

• 진폭/위상변조분광검사를위한연속및단계스캔기술
• 높은시간적해상도의실험을위한신속하고상호분리및단계스캔기술(단계스캔/빠른스캔/인터리브TRS)
• 메타물질로알려진주기적으로주문된현미경물질의특성화
• 해상도가0.06厘米^-1보다더나은가스분석을위한고해상도분광법
• 진공ft-ir빔라설치를위한계측
• 효소촉매실험을위한중지된유동방법
• 초고진공측정챔버의외부적응
• 전극` ` ` ` `면및전해질의시상조사를위한ft-ir분광화학

제약

• 분자의절대구성의결정(vcd)
• 열분석(tg-ft-ir)을통해의약품제품의정성및휘발성함량의특성화
• 원적외선역에서활성제약성분의다형성분화

폴리머및화학

• 원적외선역의폴리머복합재에서무기필러식별
• 폴리머의동적및레오광학연구
• 열분석(tga-ft-ir)에의한휘발성화합물의측정및분해공정의특성화
• 반응모니터링및반응제어(mir섬유프로브)
• 무기미네랄및료식별

通讯录면분석

• 얇고단층의검출및특성화
• 편광변조(pm-irras)와결합된` ` `면분석

재료 과학

• 광학및고반사재료의특성화(창문，거울)
• 사진음향분광기(pas)에의해어두운재료와깊이프로파일링의조사
• 재료의발광행동의특성화

반도체

• 실리콘웨이퍼의산소및탄소함량측정
• 품질관리를위한얕은불순물의저온과및광발광(pl)측정

외부액세서리，소스및검출기

顶点80/80v분광기에는5개의빔출구포트와2개의빔입력포트가장착되어있으며,예를들어외부레이저및싱크로트론광원에연결할수있는가능성을제공합니다。또한외부측정액세서리,소스및검출기로분광계광학장치를쉽게업그레이드할수있습니다。여기에는다음이포함됩니다。

• VCD및pm-irras용pma 50편광변조액세서리
• Pl ii광발광모듈
• Ram ii ft -라만모듈과라만스코프iii ft -라만현미경
• Tga-ft-ir커플링
• 하이라이온시리즈ft-ir현미경
• 하이라이온3000 ft-ir이미징시스템
• HTS-XT높은처리량스크리닝扩展
• Imac초점평면배열매크로이미징액세서리
• 외부샘플컴파트먼트xsa，대피또는제거가능
• 외부진공단단한特高压챔버적응
• 진공pl / pt / pr측정장치
• 저온액체그또는극저온액체무료극저온
• 고체및액체용mir또는nir광섬유프로브가있는광섬유커플링유닛
• 큰 통합 구
• 자동샘플러장치

• 외부FIR Hg소스
• 독특한넓은범위의mir-fir검출기
• 솔리드스테이트먼红外/太赫兹빔스플리터
• 외부배출어댑터
• 외부고성능mir소스
• 외부고성능vis소스
• 외부진공4위치검출기챔버(진공광학용)
• 枞树범위의검출을위한볼로미터적응
• 자동빔스플리터교환장치(BMS-c)(진공광학용)