HTS-XT

HTS-XT는적외선(IR)분광법에서고처리량스크리닝을위한마이크로플레이트판독기확장모듈모듈자체가다른브루커옵틱红外光谱분광계에연결할수있다。그것의구성에따라그것은근적외선및심지어VIS범위에중간적외선에서측정에사용할수있습니다。

红外분석을위한샘플링플레이트는표준화된96 - 384 -또는1536 -웰마이크로플레이트포맷에해당한다。분석을위해,액체샘플의약1 - 20μl은마이크로플레이트의단일샘플링위치에배치되고건조된다。준비된샘플볼륨은샘플형태，측정모드및샘플플레이트설계에따라달라집니다。

고체샘플은마이크로플레이트의우물로채워지기전에먼저건조되고분쇄됩니다。로드된샘플플레이트는전동서랍에의해밀봉된광학장치로이동됩니다。그런다음마이크로플레이트의측정은각샘플위치를红外빔의초점으로연속적으로이동하여측정모드전송및/또는반사도에서완전히자동화된수행됩니다。

HTS-XT는많은샘플수의스펙트럼을자동측정및평가할수있는OPUS /实验室소프트웨어에의해제어됩니다。복잡한샘플에서여러분석물의정량적결정도请(부분최소사각형)와같은현대다변량방법이사용된다。

스펙트럼상관관계와같은다양한알고리즘을정성적분석을수행하기위해PCA(주성분분석)및安(아티컬신경망)을사용할수있습니다。측정매개변수를저장하고로그파일로인해샘플데이터를외부프로그램또는LIMS(실험실정보관리시스템)로쉽게전송할수있습니다。

红外분광법의일반적인이점은각红外스펙트럼에존재하는분자정보와함께제공됩니다。다른고처리량방법은특정파라미터의분석을허용하기위해특정마커시스템의사용을필요로하는반,면적외선마이크로플레이트분석은단일측정에대한관심물질에대한구조적및분자정보의전체범위를제공합니다!

용도로사용

• 미생물의식별
• 오염경로의결정
• 바니시필름및다성분접착제의중합역학
• 셀의특성화(생산자/비생산자)
• 다이아몬드의식별및유형결정
• 토양분석(토양유형을분류하고매개변수를정량화)