MATRIX-F二世
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하이라이트
矩阵- f ii프로세스분광분석기
광학분광법은오늘날온라공정모니터링및최적화를위한매우중한기술입니다。광섬유결합프로브를사용하면시간지연없이공정을직접확할수있습니다。
MATRIX-F II FT-NIR분광계를사용하면공정반응기및파이프라인에서직접측정할수있으므로공정을더잘이해하고제어할수있습니다。혁신적인기술은일관된고품질결과,다운타임감소및직접적인분석법이전을제공합니다。모든力量공정분광기는견고성,장기안정성및낮은유지보수비용이특징입니다。
화학,석유화학,폴리머산업은물론제약생산공정,식품및사료제조분야에수천개의설치가우리의경험을입증합니다。
Ft-nir프로세스모니터링
오늘날많은제조업체들은최고품질의최종제품을생산할뿐만아니라실험실에서분석기술을사용하여제조효율성을개선하기위해노력하고있습니다。제조공정에대한엄격한제어를확보함으로써재료사용을최적화하고오프사양재료의생산을줄이거나제거하여재처리또는폐기비용을피할수있습니다。
실시간온라tft - nir분석의장점은잘확립되었습니다。그러나,종래의분광계는모니터링하는공정에가깝게만설치될수있어,이는급격한온도변화및먼지및먼지에대한노출과같은적대적인환경에분석기를노출하게합니다。또한，계측기는접근이어렵고종종전보호구역에배치되어야합니다。
광섬유기술을사용하여,측정지점에도달하기어려운것은산업경화광섬유프로브에의해액세스할수있습니다,MATRIX-F는분석하우스에예를들어배치되는동안。Bruker Optics는다양한온라분석작업을위한완벽한솔루션을제공합니다。
일반적인공정제어응용분야에는화학반응과중간및최종제품의품질에대한직접적인모니터링이포함됩니다。
- 공정반응기또는파이프라marketing，웹또는컨베이어벨트에서직접측정할수있습니다。
- 장거리에서원격측정。
- 향상된프로세스이해및제어。
- 혼합공정의균일,성성분화학물질의농도및다양한산업에서중합공정의상태를결정하기위한이상적인도구。
최대유틸리티
MATRIX-F는광섬유기술을사용하여하나의계측기로접촉하는재료와비접촉식물질을측정할수있는유일한FT-NIR분광계입니다。
광섬유프로브:다양한경로길이를가진고전적인확산반사도,트랜스플렉턴또는전송프로브뿐만아니라공정흐름셀또는파일럿플랜트어셈블리를채택할수있다。스테리스스틸이나하스텔로이와같은다양한프로브재료를사용할수있습니다。
비접촉식측정책임자:광섬유NIR조명및검출헤드에는샘플을비추는텅스텐소스가포함되어있습니다。산란된빛은광섬유케이블을통해분광계로이동합니다。이렇게하면비접촉식측정을원격으로수행하여전체배열의새로운응용프로그램을열수있습니다。6개최대의헤드를하나의MATRIX-F방출또는MATRIX-F이중분광계에연결할수있습니다。
MATRIX-F II:
플로우셀및기존프로브(고체및액체용)사용을위한광섬유커플링이있는클래식FT-NIR분광계。
MATRIX-F II发射:
비접촉측정전용광섬유결합측정헤드를사용하기위한MATRIX-F II분광기의특별버전。
MATRIX-F II双工:
광섬유프로브와광섬유결합측정헤드의동시사용을위한고전적인MATRIX-F II FT-NIR분광계의확장。
MATRIX-F exproof:
Matrix-f는다음준을준수하는전폭적atex등급버전으로도제공됩니다。
- II 2G Ex px II T6 Gb
- II (1) G [Ex op는T4 Ga
특징
첨단 기술
矩阵- f는열악한환경을직접견딜수있는전용ft-nir공정분광계입니다。
이계측기는최첨단광학장치를사용하여뛰어난감도및컴팩트모듈의정성。혁신적인디자인으로일관된고품질결과,가동중지시간감소,직접메서드전송덜민감하고정확한새로운응용프로그램의가능성악기는할수없습니다。산업@ @준의전체지원통신프로토콜은쉽게통합할수있습니다。
Tthe MATRIX-F는또한독립형시스템으로실험실에설치될수있습니다。방법개발을위해프로세스로직접이동응용프로그램。Nema 5/ ip65의독립형유닛으로이용가능합니다。(방수)하우징，준19치에장착할수있습니다온도제어캐비닛의랙。矩阵- f는장착할수있습니다。6포트광섬유멀티플렉서。
- 정확한라결과초
- 측정당여러구성소
- 비파괴분석
- 옵션내장6포트멀티플렉서
- 직접 전송
- 견고한디자
- 이더넷연결및업계@ @준통신프로토콜
- 간섭계및고체레이저의움직이는부품에대한10년보
간편한유지보수
矩阵- f ii는신뢰성과쉬운유지보수를위해설계되었습니다。사전정렬된마운트의소모품구성요소는광학장치를다시정렬하지않고도사용자가교체할수있습니다。수명이긴NIR광원과최첨단레이저다이오드를사용하여서비스운영및소유비용을크게줄입니다。장비는제조공정의중단을최소화하기위해신속하게서비스될수있습니다。
계측기성능검
MATRIX-F II에는기기성능을테스트하기위한표준재료와필터가들어있는자동필터휠이장착되어있습니다。OVP(作品验证程序)소프트웨어는일련의성능테스트를실행하여기기성능을평가하고기기가제약산업애플리케이션의전제조건인사양내에서작동하는지확인합니다。
化学式터넷
之外소프트웨어作品가될수있도록하는산업표준인터페이스(OPC)를제공합니다。광범위한공정제어환경에통합4-20mA를포함한표준통신인터페이스및프로토콜,모드버스,Profibus DP및OPC。
추가 정보
Ft-nir관련자료
관련문헌을다운로드하여ft-nir제품및솔루션에대해자세히알아보십시오。
지원
응용프로그램지원
力量光学는계측및응용분야의심층적인노하우를가진전문과학자와엔지니어의직원입니다。당사의제품전문가는원격으로또는실험실에서방법개발을지원할수있습니다。
또한,브루커옵틱스는NIR분광학의세계로의진입을용이하게하는다양한즉시사용교정을제공합니다。
서비스및교육
力量光学분광기는수년간의신뢰할수있는문제없는운영을제공하도록설계되었지만,문제가발생하면브루커회사와전세계대표들이귀하의요구에신속하게대응할준비가되어있습니다。전문설비와높은수준의포스트딜리버리서비스는브루커옵틱스가각고객에게약속하는것입니다。다양한서비스계약패키지외에도원격진단이포괄적지원을위해제공됩니다。
정기적인고객교육외에도고객의필요에따라전용사내세미나및현지지원을예약할수있습니다。
