XFlash®7 EDS系列电子显微镜
按需会话- 35分钟
获得正确的角度更好的分析与新的XFlash®7探测器!
XFlash®7是布鲁克的最新一代EDS探测器，为电子显微镜的x射线采集提供最大的立体角，最高的通量和最高的起飞角度。结合我们的模块化ESPRIT软件量子税EDS系统可以为您的研究提供最快、最可靠的结果和最优质的数据。
在本次网络研讨会中，我们将介绍新XFlash的优点®7个探测器系列的SEM和TEM，并讨论具体的显微镜探测器的几何形状。我们还展示了跨不同应用领域的数据采集和分析示例。
谁应该参加?
- 对SEM和TEM的EDS技术感兴趣的所有分析领域的科学家和研究人员
- 所有对元素分析感兴趣的材雷竞技网页版料科学、生命科学和学术界人士
演讲者
安迪Kaeppel
布鲁克纳米分析公司EDS/SEM高级产品经理
迈肯·福尔克博士
布鲁克纳米分析公司EDS/TEM全球产品经理
*按需注册表格是优化与浏览器谷歌Chrome工作。