Espalhamento de Raios-X de Pequeno Ângulo (SAXS)

NANOSTAR

Seu telescópio para o Nano-universo | Espalhamento de raios X de pequeno ângulo dedicado (SAXS) com design modular para flexibilidade experimental

NANOGRAPHY - SAXS - WAXS - GISAXS

Destaques

ø 14 cm
grande área ativa 2D com o VÅNTEC-500
O grande campo de visão completo coleta todo o sinal de dispersão, isotrópico ou anisotrópico, em um único disparo.
>200 nm
escala de comprimento acessível
O design modular permite uma ampla faixa de cobertura de espalhamento para caracterizar completamente nanoestruturas em escalas de comprimento maiores que 125 nm.
5-150 cm
distância da amostra ao detector
Ampla faixa de posicionamento do detector para otimizar a cobertura de dispersão para a amostra.
NANOSTAR with extended secondary beam-path

O NANOSTAR com sua modularidade incomparável é a ferramenta ideal para caracterização de nanoestruturas e superfícies nanoestruturadas por Espalhamento de Raios-X de Pequeno Ângulo (SAXS), Espalhamento de Raios-X de Pequeno Ângulo de Grazing-Incidência (GI-SAXS), Grande Ângulo-X- Espalhamento de Raios (WAXS) e Nanografia. O sistema de colimação pinhole condicionado por espelho produz um formato de feixe circular paralelo e ideal com alta intensidade e baixa dispersão parasitária. A câmara de amostra extragrande (XL) acomoda uma variedade de estágios de amostra dedicados e de terceiros para medições de muitos tipos de amostra sob todas as condições. Finalmente, o sinal espalhado é coletado com um detector 2D grande, de baixo fundo e altamente sensível para amostras isotrópicas e anisotrópicas.

Características

Recursos NANOSTAR

Fonte de microfoco IµS

Esta fonte de raios-X exclusiva fornece um feixe de raios-X de foco pontual muito estável e intenso sem a necessidade de resfriamento a água. Graças ao seu design robusto, a fonte vem com 3 anos de garantia. O IµS inclui MONTEL integrada, óptica de modelagem de feixe 2-D de última geração, para maior intensidade na amostra. Este design de espelho multicamada lado a lado captura um grande ângulo sólido de raios X da fonte e redireciona com eficiência em um feixe altamente paralelo e monocromático.

Recursos NANOSTAR

Câmara de Amostra XL

Esta câmara de amostra convenientemente superdimensionada (XL) vem com muitas portas de alimentação extras e pode ser operada sob vácuo, gás inerte ou condições atmosféricas. Ele pode acomodar muitos componentes padrão adicionais para manuseio individualizado de várias amostras, bem como estágios personalizados e de terceiros para máxima visibilidade. Um estágio X-Y motorizado com grande alcance de tradução e roda de suporte de amostra de referência motorizada secundária tornam o alinhamento automatizado de amostras e as varreduras de referência e de fundo em um piscar de olhos!

Recursos NANOSTAR

Detector 2D VÅNTEC-500

O detector 2-D VANTEC-500 com tecnologia MikrogapTM atende a todos os requisitos ideais de um sistema SAXS dedicado. Primeiro, não há necessidade de gás, água ou manutenção de rotina e nenhuma preocupação com radiação intensa ou danos causados pelo movimento resulta em um detector robusto e muito fácil de usar. Uma grande área ativa (14 cm de diâmetro) para permitir uma grande cobertura angular com campo de visão total. Fundo incrivelmente baixo e alta taxa de contagem máxima para uma fantástica faixa dinâmica e sensibilidade a amostras com dispersão fraca. Excelente resolução espacial para resolver recursos de dispersão próximos. Nenhum outro detector pode oferecer essa combinação de recursos ideais para essas aplicações.

Aplicações

Principais Aplicações

Aplicações NANOSTAR

Dispersão de raios-X de ângulo pequeno e grande angular (SAXS e WAXS)

O Espalhamento de Raios-X a Pequenos Ângulos (SAXS) é um fenômeno causado por partículas embutidas em uma matriz de densidade eletrônica diferente. Se o tamanho da partícula varia de 1 nm a 200 nm, o ângulo de espalhamento fica dentro da faixa de 0° a 5°, dependendo do comprimento de onda de raios X usado. Quanto menores forem as partículas, maiores serão os ângulos de espalhamento.

Qualquer arranjo de partículas em qualquer meio mostra uma diferença na densidade eletrônica, o que resulta em um padrão específico ao executar um experimento SAXS. Juntamente com o tamanho das partículas, o SAXS também pode determinar sua forma, sua distância e distribuição de tamanho a partir do padrão 2-D. As partículas podem ser macromoléculas dissolvidas, precipitações em metais, partículas minerais em tecidos biológicos e micelas de surfactantes.

Em contraste com SAXS, Wide Angle X-ray Scattering (WAXS) examina estruturas no nível de Angstrom, que são tipicamente distâncias interplanares de estruturas cristalinas. Muitas vezes WAXS é usado para analisar Bragg o padrão de difração de raios X (XRD) que pode ajudar a determinar a estrutura cristalina, grau de cristalinidade, tamanho do cristalito e composição de fase (Phase ID). Os dados WAXS podem ser coletados ao mesmo tempo (simultaneamente) que os dados SAXS com um segundo detector posicionado muito mais próximo da amostra.

Aplicações NANOSTAR

SAXS de incidência de pastoreio (GI-SAXS)

Para sondar os detalhes estruturais de superfície e subsuperfície, as amostras são medidas em geometria de incidência de pastejo. Os ângulos de incidência estão próximos do chamado ângulo crítico de reflexão total e normalmente situam-se entre 0,1 e 0,7 graus. Em um experimento Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering (GISAXS), a intensidade difusamente espalhada é coletada na direção não coplanar por meio de um detector 2-D.

Uma platina GI-SAXS dedicada com inclinação motorizada é usada para alinhar a amostra no feixe.

Aplicações NANOSTAR

Nanografia

Uma investigação de Nanografia utiliza o estágio XY acionado por motor integrado na câmara de amostra do NANOSTAR. Isso permite que uma região selecionada da amostra seja digitalizada automaticamente através do feixe de raios X. A distribuição de intensidade (ou outro parâmetro de dispersão) pode então ser exibida por meio de um gráfico de contorno codificado por cores.

A nanografia permite a detecção rápida e seletiva de pontos de medição relevantes com amostras não homogêneas e permite que mesmo pequenas amostras sejam posicionadas com precisão. Cada ponto individual da imagem completa de Nanografia representa a intensidade integral de SAXS/WAXS coletada pelo 2-D.

Especificacoes

EspecificacoesNANOSTAR

Feature

Specification

Benefit

我µS micro focus苏rce

Air-cooled, high intensity, micro-focus X-Ray source

Low power usage (30W)

3 year standard warranty

No need for water chiller

High power density leads to increased intensity

Integrated Montel mirrors for ideal beam conditioning

SCATEX pinholes

Ideal circular beam shape with negligible parasitic background scatter.

No parasitic aperture edge scattering

Higher resolution / Higher flux

More compact collimation beampath allows longer detector distance

Easy, stable, pinhole alignment

XL Sample Chamber

Extra-Large chamber, with motorized XY-stage for sample positioning, mapping and accommodation of versatile standard and 3rd party stages.

Inner dimensions: 287 mm x 501 mm x 380 mm (W x H x D)

Flanges for additional supply connections

XY-stage with 80 mm x 130 mm translation

Motorized reference sample wheel

Operation in vacuum, air, or inert gas atmosphere

VÅNTEC-500 2D detector

大型活动区域,背景低、sensitivit高y 2D detector

Large active area (14 cm diameter) for full frame of view SAXS/WAXS scattering images

Very low background for highest sensitivity

Excellent spatial resolution (68 micron pixel size)

Maintenance-free (no water/air required or sensitivity to strong primary beam or detector movement under bias)

Webinars

Apoio

Serviço e Suporte

Nós oferecemos:

  • Suporte de help desk de profissionais de solução de problemas altamente qualificados, para isolar e resolver problemas de hardware e software
  • Serviço de instrumento remoto baseado na Web para diagnóstico de serviço e suporte a aplicativos
  • Suporte de realidade mesclada - um engenheiro virtual ao seu lado (video)
  • Manutenção planejada, de acordo com sua necessidade
  • Serviço de reparo e manutenção no local do cliente
  • Disponibilidade de peças sobressalentes normalmente durante a noite ou dentro de alguns dias úteis em todo o mundo
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