XFlash 6 - 100
小电流应用的最大面积SDD
XFlash 6-100检测器
非常特殊的情况需要非常特殊的探测器。的XFlash®6-100是为这种情况下，在有限的信号可用。例如，当分析非常敏感的样品或使用Cold-FEG SEM时，就会出现这种情况。大的100mm2活跃区域和窄端盖提供了最大的立体角，即使在这些不利条件下也可以在短时间内获得光谱。同时XFlash®6-100具有与较小的检测器相同的高计数率能力(输入值高达1,500 kcps)，使其成为真正独特的EDS分析仪器。
总之，XFlash®6-100提供以下优点:
- 良好的能量分辨率(Mn Kα为129 eV, C Kα为57 eV, F Kα为67 eV)
- 极高的脉冲负载能力
- 良好的轻元素和低能耗性能(元素范围Be - Am)
- 没有精密的、产生振动的冷却系统
- 通电后立即可用
- 运行成本低
- 不需维护的操作
- 小尺寸
- 重量轻，包括纤细线条的科技手指
建议的XFlash应用领域®6 - 100:
- 用于SEM，微探头，FIB-SEM的EDS系统(可选焊接波纹管)
- 低束流和敏感样品分析(带有冷场发射器的sem)