XFlash 6T-100椭圆形
用于STEM的高采集角EDS系统
此面积大，采集角度高，无窗EDS探测器呈椭圆形100毫米2SDD为每个合适的极片几何形状精心定制。独特的形状和最先进的细线设计可以优化采集几何形状，以适应非常具体的改造条件。
在超过13°的发射角下，STEM中x射线采集的立体角高达0.7 sr，提供了原子柱元素映射和单个杂原子识别[1,2]。
[1]室温多铁性材料中磁性离子分配的直接原子尺度测定(开放)
科学报告7，(2017)文章号:1737;作者:L. Keeney等。
[2]x射线光谱法鉴定单个杂原子(开放)
应用物理快报第108卷，第16期，163101 (2016);作者:R. M.斯特劳德，T. C.洛夫乔伊，M.福尔克，N. D.巴西姆，G. J.科尔宾，N.德尔比，P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde, O. L. Krivanek
总之，XFlash®6T-100椭圆具有以下优点:
- 100毫米2区,没有窗户
- 固体收集角可达0.7 sr，适应性不同
- 起飞角度可达13.4°，可调整
- 特高压兼容
- X-ray-tight快门
- 无干扰冷却系统
- 优异的低能量性能，需要分析轻元素和重叠的L-， M-，…低能区高Z元素的谱线
- 布鲁克的所有优点都是多才多艺的分析软件
建议的XFlash应用领域®6T-100椭圆有:
在TEM和STEM中使用EDS进行高端元素分析，包括像差校正电子显微镜，旨在:
- 原子分辨率
- 快速数据采集
- 微量元素分析