XFlash 6 t-30

的XFlash^®6T-30是S/TEM中能量分辨率最高的探测器。由于其直径小(细线设计)，它特别适合于空间很小的情况下，可用于EDS探测器，特别是在旧的tem上进行EDS改造。多功能的XFlash^®6T-30满足所有分析人员的需求，从优异的几何条件(最佳起飞和最佳立体角)到分析性能(轻元素或高计数率分析)。

总之，XFlash^®6T-30具有以下优点:

• 优异的能量分辨率(Mn Kα 126 eV, C Kα 51 eV, F Kα 60 eV)
• 其他可用的分辨率是129ev at Mn Kα
• 极高的脉冲负载能力
• 优异的轻元素和低能耗性能(元素范围Be - Am)
• 标准焊接波纹管
• 无产生振动的冷却系统
• 通电后立即可用
• 不需维护的操作
• 运行成本低
• 小尺寸，包括纤细线条的技术手指
• 低体重
• 无窗口版本可按要求提供

建议的XFlash应用领域^®6 t-30是:

• 所有类型的EDS分析在TEM和STEM上，包括像差校正电子显微镜