XFlash 6 t-60

用于纳米及以下TEM分析的大立体角SDD
XFlash 6T-60探测器

介质活动面积60毫米2芯片安装在细线探测器手指提供了一个大的实心角度和高起飞角度。的XFlash®因此,6T-60非常适用于x射线产率相对较低的应用,例如原子分辨率光谱法,必须保持区域轴的实验,因此样品不能倾斜,以及光束敏感的样品(如石墨烯,生命科学)。该探测器还提供了非常好的能量分辨率,在Mn Kα下为126 eV。

总之,XFlash®6T-60具有以下优点:

  • 良好的能量分辨率(Mn Kα 126 eV, C Kα 51 eV, F Kα 60 eV)
  • 其他可用的分辨率是129ev at Mn Kα
  • 极高的脉冲负载能力
  • 优异的轻元素和低能耗性能(元素范围Be - Am)
  • 标准焊接波纹管
  • 无产生振动的冷却系统
  • 通电后立即可用
  • 不需维护的操作
  • 运行成本低
  • 小尺寸,包括纤细线条的技术手指
  • 低体重
  • 无窗口版本可按要求提供

建议的XFlash应用领域®6 t-60是:

  • 低x射线产率应用于TEM和STEM,包括像差校正电子显微镜