原子力显微镜

NanoWizard感+

经过验证的nanowwizard技术具有出色的灵活性和模块化

Destaques

NanoWizard®感+

NanoWizard Sense+是一款高质量的入门级AFM,即使在倒置光学显微镜上,也能使AFM成像具有出色的分辨率和最高的机械和热稳定性。

模块化
灵活的配置。轻松升级。
理想的多用户平台:通过广泛的配件和功能简化您的系统,以满足用户的需求。与先进的光学相结合。
性能
入口级系统,质量知名
无与伦比的光学集成,优越的成像和分辨率。简化的设置,提高生产力:一键校准和新颖的,基于工作流的软件。
多功能性
最高的机械和热稳定性
多用途系统:研究活细胞,单分子,组织,聚合物和纳米材料。雷竞技网页版

Caracteristicas

特性



技术领先,完美开始

基于经过验证的NanoWizard技术,该NanoWizard感+提供空气和液体样品的高性能测量,从单分子,活细胞和组织到聚合物和纳米材料。雷竞技网页版

由于其模块化和灵活的设计,它可以轻松升级到一个完整的NanoWizard®4 XP系统具有特定于应用程序的组件和附加功能。

铁电共聚物的压电响应力显微镜(PFM)。

多功能性、灵活性和模块化

玻璃表面的形貌和接触共振频率图像,显示生产过程中的表面污染。
细胞培养基中的活Vero细胞。使用PeakForce tap®模式和获得专利的DirectOverlay™2软件功能拍摄的AFM图像和相位对比和荧光叠加。

NanoWizard系列以其广泛的可选配件,模式和功能而闻名,为所有应用程序提供了最高的灵活性。

样品处理:大标准样本量(Ø140×18mm3.)可以通过专门的选项进行增强,例如电动定位,StretchingStage用于在机械负载下对样品进行AFM, Head-up Stage在Z延伸至14cm,用于更高的样品,以及BioMAT™用于高NA直立光学的梭式Stage。

温度控制:高低温选项(例如,独特的CryoStage: -120°C至220°C),有或没有灌注或气体控制。

开放:在实验设计中具有极大的通用性,例如,同时使用微量移液管或电探针与AFM样品接触。

电气测量:导电AFM, KPM, EFM, MFM, STM,压电响应显微镜,电化学与温度控制和光学。

机械测量:优化的力映射,接触共振成像,纳米操作,纳米光刻和纳米压痕。先进的力谱学应用范围从单分子力谱到粘弹性力学。

完善的光学集成:NanoWizard AFMs代表着无与伦比的光学集成。由于其独特的尖端扫描设计,该系统可以与先进的光学系统相结合,并与标准的冷凝器和反射显微镜同时使用,甚至可以通过薄的盖套,并用于所有主要的倒置光学显微镜。

关键特性

  • 设计用于空气和液体中的高质量成像,具有出色的分辨率,最低的噪声和最大的可用性
  • 现在有了布鲁克独家的PeakForce敲击作为标准
  • 独特的尖端扫描设计专利DirectOverlay™2模式使光学显微镜无缝集成
  • 从单个分子到活细胞的综合力测量
  • 新的基于工作流的用户界面符合人体工程学,易于操作
  • 具有出色的灵活性,适用范围广模式及配件用于机械、电气、光学、磁性和化学样品特性的表征,包括用于细胞注射和操作的最先进的FluidFM悬臂
  • 可以轻松升级到一个完整的NanoWizard®4 XP AFM系统
NanoWizard 4 XP纳米科学设置与TopViewOptics,新的用户界面和平板电脑控制。

Aplicacoes

应用程序

NanoWizard Sense+数据画廊

Bruker的BioAFMs允许生命科学和生物物理学研究人员在细胞力学和粘附、机械生物学、细胞-细胞和细胞表面相互作用、细胞动力学和细胞形态学等领域进一步研究。我们收集了一组图片,展示了其中的一些应用程序。

Especificacoes

操作模式

标准操作模式

成像模式

  • 横向力显微镜(LFM)接触方式
  • 带相位成像的敲击模式

力的测量

  • 静态和动态光谱学
  • 高级兵力映射


可选模式

  • 新:PeakForce攻
  • 高谐波成像
  • 新:接触共振AFM
  • 导电AFM
  • 开尔文探针显微术
  • MFM和EFM

  • 扫描隧道显微镜
  • 电光谱模式
  • Piezoresponse显微镜
  • 电化学与温度控制和光学显微镜
  • 纳米
  • 纳米操作
  • Nanoindentation
  • 扫描热原子力显微镜
  • 新:来自Cytosurge的FluidFM®解决方案
  • 用于设计特定测量工作流程的实验计划器
  • RampDesigner™定制设计的钳和斜坡实验
  • 用于远程实验控制的ExperimentControl功能
  • 新:用于组合AFM和光学显微镜的DirectOverlay 2

Acessorios

配件

市场上最广泛的配件

光学系统/配件,电化学解决方案,电气样品表征,环境控制选项,软件模块,温度控制,隔音和隔振解决方案等。布鲁克为您提供正确的配件来控制您的样品条件,并进行成功的实验。

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