原子力显微镜

维XR

纳米力学、纳米电学和纳米电化学的极端研究系统

Destaques

维XR

布鲁克的维XR扫描探针显微镜(SPM)系统结合了数十年的研究和技术创新。常规原子缺陷解决方案,以及一系列独特的技术,包括PeakForce tap®, DataCube模式,SECM和AFM-nDMA,它们提供了最大的性能和能力。Dimension XR系列spm将这些技术打包成解决纳米机械、纳米电和电化学应用的交钥匙解决方案。在空气、流体、电或化学反应环境中量化雷竞技网页版材料和活性纳米系统从未如此容易。

高光谱
nanoelectrical表征
包括功能材料,半导体和能源研究的表征电AFM技术的最完整的阵列。雷竞技网页版
子- 100 nm
电化学成像
为与电池、燃料电池和腐蚀相关的局部电化学活性的定量分析提供最高分辨率的整体解决方案。
开箱即用的
纳米机械分析
提供完全定量的、交钥匙的技术套件,用于关联材料的结构和纳米力学性能。雷竞技网页版

Caracteristicas

启用第一且唯一具有最高性能的AFM功能

为高级研究优化配置

XR Nanomechanics

XR纳米力学提供了一系列模式来全面检测最小的结构,空间分辨率低至聚合物链的亚分子单位。雷竞技怎么下载研究人员将纳米力学数据与批量DMA和纳米压痕方法与我们专有的AFM-nDMA™模式相关联。实现从软黏水凝胶和复合材料到硬质金属和陶瓷的可量化纳米级表征。

XR Nanoelectrical

Dimension XR纳米电配置涵盖了单一系统中最广泛的电AFM技术。研究人员用专有的DataCube模式捕获与机械性能测量相关的每个像素的电光谱。该系统通过单一测量提供以前无法获得的信息。

XR Nanoelectrochemical

纳米电结构可以实现强大的基于AFM的扫描电化学显微镜(AFM- secm)和电化学AFM (EC-AFM)。AFM操作人员获得<100 nm空间分辨率的电化学信息,并在单个系统中同时进行电化学、电气和机械测绘。

最高分辨率的所有模式,所有环境

从液体和刚度图中的点缺陷到空气和电导率图中的原子分辨率,Dimension XR系统在所有测量中提供最高分辨率。他们利用布鲁克的专利PeakForce攻实现硬物质和软物质性能基准的技术,包括聚合物中的晶体缺陷分辨率和分子缺陷。雷竞技怎么下载同样的技术在数百张图像中解决毛化玻璃上最小的粗糙度方面发挥着同样重要的作用。该系统将PeakForce敲击与极高的稳定性、独特的探头技术以及Bruker在尖端扫描创新方面的数十年经验相结合。结果是始终如一的最高分辨率成像,完全独立于样本量、重量或介质,适用于任何应用。

革命AFM-nDMA

四组分(COC, PE, LLDPE,弹性体)聚合物的高分辨率存储模量图(左)。在各个点采集的存储模量谱(右)。

AFM首次能够在纳米尺度上对聚合物进行完整和定量的粘弹性分析,在线性体系中以流变相关频率探测材料。雷竞技网页版专有的双通道检测、相位漂移校正和参考频率跟踪能够在0.1 Hz至20 kHz范围内进行小应变测量,用于直接与批量DMA相关的存储模量、损耗模量和损耗切线的纳米级测量。

私有数据立方模式

这些模式利用FASTForce体积用用户定义的停留时间在每个像素上执行力距离谱。利用高数据捕获率,在停留时间内执行大量的电测量,从而在每个像素处获得电光谱和机械光谱。DataCube模式在一次实验中提供完整的特性描述,这在商业AFM中是闻所未闻的。

Dimension XR的DataCube模式在每个像素上提供多维纳米级信息,同时在一次测量中捕获电气和机械特性。
DCUBE-PFM测量清楚地显示了BiFeO3薄膜上每个离散像素的域在不同的电位水平上翻转。

独家PeakForce SECM

(A)布鲁克独家预安装的PeakForce SECM探头提供简单和安全的操作,以及在数小时的成像和多次清洗周期中极其稳定的性能。(B)探头的SEM图像;(C) COMSOL模拟10 mM [Ru(NH3)6]3+剖面;(D)以20 mV/s的扫描速率从50个连续扫描中选取第1、25、50个cv;(E)与AgQRE相比,在-0.1 V下进行2小时安培测试,插入放大70至120分钟;以及(F)模拟(虚线)和实验(实线)逼近曲线。C和E图片由加州理工学院C. Xiang和Y. Chen提供。

该模式的空间分辨率小于100纳米,重新定义了液体中电气和化学过程的纳米级可视化。PeakForce SECM与传统方法相比,它的分辨率有了数量级的显著提高。这使得对储能系统、腐蚀科学和生物传感器的全新研究成为可能,为单个纳米颗粒、纳米相和纳米孔的新型测量打开了大门。只有PeakForce SECM能够同时捕获具有纳米级横向分辨率的地形图、电化学图、电学图和机械图。

由NanoScope 6 AFM控制器提供动力


NanoScope 6控制器具有更高的速度,更低的噪声和更大的AFM模式灵活性,允许用户充分利用我们高性能维度和多模式AFM系统的全部潜力。这一最新一代控制器提供了前所未有的精度,精度和多功能性的纳米级表面测量在每个应用程序。

NanoScope 6独特地使布鲁克AFMs:

  • 与竞争系统相比,可以在更多的成像模式下操作,包括需要复杂控制和分析的独特和先进的AFM模式;
  • 在每一个应用中收集精确、定量的纳米电和纳米力学性能测量数据;而且
  • 优化和自定义扫描参数,以满足最苛刻的研究和行业测量要求。

Aplicacoes

AFM模式

使用AFM模式扩展应用程序

凭借无与伦比的成像模式套件,布鲁克有一个AFM技术的每一个调查。

基于核心成像模式-接触模式和敲击模式- bruker提供AFM模式,允许用户探测样品的电、磁或材料特性。雷竞技网页版Bruker的创新PeakForce敲击技术代表了一种新的核心成像模式,该模式已被纳入多种模式,可并行提供地形、电气和机械性能数据。

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