硅半导体的x射线计量
布鲁克为薄膜测量提供世界上最先进的非破坏性x射线技术解决方案。我们的表征解决方案涵盖了逻辑和内存处理的全部范围。我们提供专门的系统，用于识别衬底缺陷和执行外延薄膜和高k介电体的前端线控制，以及用于分析金属薄膜和晶圆级封装凸起的专用仪器。这些系统还常规执行其他半导体计量应用，用于硬盘驱动器材料，GaN on Si功率晶体管，以及PZT薄膜成分和相位监测。雷竞技网页版
支持
我们能帮什么忙?
布鲁克与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发下一代技术，帮助客户选择合适的系统和配件。这种伙伴关系通过培训和延长的服务，在工具销售后很长一段时间内继续下去。
我们训练有素的支持工程师，应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训最大限度地提高您的生产力。