椭圆计和反射计

Reflection-Transmission分光光度法

设备解决方案测量吸收电影在透明基板

概述

与无与伦比的精度测量吸收电影,放松,和分析能力

我们FilmTek™3000系列reflection-transmission分光光度法系统是适合吸收薄膜的厚度和光学常数测量沉积在透明基板。所有3000 -模型系统提供高水平的准确性、易用性和分析权力由常规反射计和无与伦比的椭圆计用来描述这样的样本。

每个3000 -模型系统是一个完全集成的方案。专属配置结合光纤分光光度计和专有材料建模软件,我们的推广材料模型与先进的全局优化算法,和其他FilmTek专利技术。结果,他们都是独特设计的快,同时,和独立的层厚度的测定,折射率和消光系数吸收膜材料和结构。雷竞技网页版

这个产品线提供用户多种选择,以适应特定的和具有挑战性的测量需求。模型从我们最精简的台式设备最先进的和自适应的多通道系统。此外,FilmTek 3000产品族功能的仪器,能够描述几乎所有超薄非常厚膜样品,包括层和结构强烈吸收DUV的NIR光谱范围或包含在多层堆栈。这使得FilmTek 3000系列仪器理想用于研发和生产LED / OLED、光电子学、太阳能光电、半导体、平板显示器的应用,在许多其他人。

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