XFlash®7 - 新一代能谱探头

元素分析

深入了解XFlash®7 !

Quantax eds / sem

Sem, fib-sem和epma上的能谱仪

XFlash®7 - 扫描电子显微镜上的能谱仪

更快的分析速度

更全的元素线系

更强的定性能力

优化的结构设计

更高的产出效率

Quantax eds / tem

透射电子显微镜上的纳米尺度元素分析

XFlash®7t -适用于tem, stem和t-sem的能谱探头

使用更高能量的元素谱线,可以对全部元素进行更确定的定性定量分析

基于理论和实验基础的Cliff-Lorimer因子法,改进的ζ-因子法的定量流程成熟易用,在TEM、茎和T-SEM上都经过了长时间的验证

专门的漂移校正功能使周期性结构 (原子排列或多层结构)的元素面分布更加稳定,可以媲美非周期性样品

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