扫描定量分析
XFlash®7 -最新eds探头系列
优化的设计 更好的分析
快速、精准、可靠
亮点
1000000年
cps
有效输出计数可达1,000,000 CPS
无与伦比的分析速度
> 2200
条元素谱线
包含所有k, l, m和n线系的全系原子数据库，可以对复杂的数据进行定量分析
> 1.1
老
更大的采集立体角
优化的几何结构，更快的采集速度，更高的测试效率
用于sem, fib-sem和epma的能量分散谱仪
- 布鲁克的最新一代QUANTAX EDS XFlash®7 能谱探头具有最大的采集立体角(立体角)和更高的输出计数率。
- XFlash®7继续引领扫描电子显微镜(SEM),聚焦离子束(FIB-SEM)和电子探针(电子探针)上能谱分析的性能与功能的标准。
- XFlash®7探头还为TEM和SEM中可以透过电子的样品提供了优化的解决方案,此外,独特的XFlash®FlatQUAD为一些高难度样品提供了更好的解决办法。
- 款超薄的线性技术,大立体角设计,最新一代脉冲处理器,以及维护预警系统使系统运行时间达到最大化。
- 更好的能量分辨率和采谱性能。
- 精致的定量算法，独特的有标样和无标样定量分析方法有效提高了分析结果的准确性。
优势
高效的元素分析
- 每一套eds系统都独立进行优化，保证以更快的速度得到更精确的结果。
- 更大的输出计数率使测量时间大大缩短，可以在任何条件下进行定量和面分布分析而不再受数据量的困扰。
- 优化的结构设计，可以分析各种高难度的样品。
- 优化的设计降低了背底和吸收的影响，使定量结果更为准确可靠。
- 更低的背底和吸收使检测限更小，可以检测到更低含量的元素。
- 一体化的思捷环球软件平台将EDS、WDS EBSD和微区光谱仪无缝组合,成为一个综合的分析平台,可用于所有的SEM、FIB-SEM以及电子探针。
