微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)

M4龙卷风amics

用于微区xrf的高级矿物分析软件

自动数据采集和矿物匹配

用于微区xrf的高级矿物分析软件

亮点

16 × 19
平方厘米
测量区域
适用于岩芯或地质薄片样品——在M4龙卷风的大型低真空样品室中无需抛光或喷金等样品前处理即可快速进行分析
< 20
μm
光斑大小
在满足大多数地质研究所需的分辨率下,采集主量、微量和痕量元素以及矿物分布图
> 1340
数据库中的矿物种类
氨的预加载了用户可扩展的矿物数据库,可使用该数据库与未知矿物谱图进行匹配以获得矿物类型分布等信息

自动化微区xrf数据采集和相图分析

将高级矿物分析加入到您的Micro-XRF

M4龙卷风氨的是一种创新的高级矿物分析软件,它使用X射线激发样品,采集样品能谱,进一步进行矿物匹配。同时实现m4龙卷风的超快高分辨率元素分布以及amics软件的自动化矿物分析匹配。

  • M4龙卷风氨的具有大型样品仓,可在低大气压下工作,只需平面,无需特殊抛光喷金等样品特殊前处理。非常适合岩芯、矿物玻片、甚至未抛光的块体矿物等。
  • 使用各种样品支架和定制测量区域快速自动进行重复测量。
  • 分析整个样品以识别矿物类型以及相分析,应用统计计算,将结果生成分布图、图表和柱状统计图报告。
  • 创新的谱系树使用户能够对未知阶段进行分类,包括复杂的固体解决方案,边界和混合相。

优势

如何将Micro-XRF应用于矿物种类以及纹理特征分析?

可以将M4龙卷风氨的集成到任何添加地球化学和矿物图工作流程中,适用于已准备或未准备好的样品——钻芯,手标本,薄片等。这种创新和强大的仪器能够在纹理和元素分布中捕获矿物信息。

  • 出色的微量元素灵敏度和快速测量时间可生成< 20μm分辨率扫描图,能够元素或矿物分布快速做出决定并筛选样品,以便氨的SEM或其他需要较小制备样品的技术进行进一步分析。
  • M4龙卷风氨的是测量大型矿物颗粒(如粗晶质金岩石或重矿砂)样品的的理想之选,可实现在破坏和尺寸调整之前的快速分析,从而能够保留原始的纹理结构。
  • M4龙卷风可运到世界各地的现场地点;它操作简单,自成一体,没有耗材。当配备M4龙卷风氨的,并结合紧凑的SEM和现场适当的样品制备工具时,它可以提供完整的现场岩石特征和纹理分析解决方案,以便快速制定下一步计划。

应用

您的分析挑战是什么?

探矿

岩芯特性、矿物和纹理分析

M4龙卷风氨的通过捕获和保存在岩芯粉碎前丢失的矿物和纹理信息,成为岩芯表征工作流程中的关键工具。这种原始的矿物和纹理信息,以及从中获得的其他地球化学信息,可用于描述矿石几何特征,并在勘探环境中表征矿石开发方向。空间解析矿物数据允许加入传统的块体地球化学分析和XRD分析,当与元素分布相结合时,M4 TORANDO氨的为矿物开采和勘探模型提供了关键信息。
工业矿物

重矿砂分析

重矿砂是锆、钛、钨和稀土元素的重要来源。M4龙卷风amics是快速评估勘探目标、产品的独特解决方案。样品可以通过简单的矿物大小和种类分类来进行分析,几乎不用进行样品前处理。M4 TORNADO 操作简单,可安装在生产基地附近,从而快速生成数据,实现极快的生产决策。
岩石学和地球化学

空间解析矿物学和微量元素地球化学

M4龙卷风氨的支持使用微区光谱仪对大多数地质样品进行矿物定量分析和纹理表征。快速扫描大面积区域的能力允许进行完整的样本分析,从而对结果提供充分完整的信息。使用元素数据和矿物扫描图作为工具选择样品用于sem-eds分析。以大型样品中的低丰度矿物为目标,使用M4龙卷风氨的进行样品扫描,可以为后期的EMP和介绍进一步表征和分析减少时间和成本。

技术参数

技术细节

<20 μm光斑大小
多导毛细管聚焦
光谱树

按bse和能量光谱标准对光谱进行分类

C到u M4龙卷风加上的元素定量范围。大部分元素检出限在ppm级别。 综合矿物数据库

数据库,包含 1300 多个矿物阶段和软件,用于收集和管理自定义阶段

全光谱完整列表(fswl)匹配 使用整个能量分散光谱与整个矿物列表进行光谱匹配 数据收集自动化

从M4龙卷风和M4龙卷风+自动收集数据,包括快速装载样品支架和自定义测量区域

配件

Sem eds的Amics

M4龙卷风氨的是布鲁克创新自动化矿物学系统的一部分,该系统可以提供来自微区光谱仪和能谱的矿物数据。能谱的氨的将高分辨率疯牛病和高通量EDS结合在一起,实现自动化矿物学解决方案,自动收集和分析来自扫描电子显微镜的数据。Amics是下一代矿物表征工具,结合创新的成像和分析,来对样品提供详细的定量结果。

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