纳米机械测试

xProbe

定量rigid-probe nanoindentation AFM的决议

超高分辨率,rigid-probe nanoindentation

力量的xProbe MEMS-Based换能器Hysitron仪器的特性功能延伸到埃水平。设计使用力量在静电驱动和电容式感应方面的专长,结合最新的MEMS加工技术,xProbe达到载荷和位移噪音和敏感性水平afm的特征。xProbe的高轴向刚度增加其机械带宽,极大地改善反馈响应时间和使高应变率测试。力量的xProbe设置新标准量化,刚性探针nanoindentation和nanotribological测试。

xProbe高精度纳米机械测试。

定量结果以纳米级的底部

力量的xProbe提供< 2神经网络力和< 20点位移噪声地板,通常与cantilever-based测量系统相关联。xProbe利用刚性缩进调查操作下真正的力或位移反馈控制提供可靠的表征纳米尺度的底部。另外,刚性探针设计期间支持精确的力传感探头的方法/收缩的接触不会断裂。