Micro-XRF Spektrometer

M1米斯特拉尔

Ein kompaktes microro - rfa Spektrometer für Ihren Labortisch

基质,材料-zusammensetzung和schichdicken

Kosteneffiziente Materialanalyse

突出了

100µm
Kleinste Spotgroße
Sogar feine Strukturdetails auf Leiterplatten können aufgelöst werden
2 nm - 60µm
Bereich für die分析von meherren多元素- schichten
ASTM B568;selbst wenn Elemente in mehren Schichten vorkommen, programmierbare multipoint - analysis für sich wiederholende Aufgaben
8 ppm
Nachweisgrenzen für聚合体中的Cu、Zn和Zn中的Pb
RoHS-Prüfung,分析von Spurenelementen在Lötzinn, Kunststoffen/Polymeren, Metalllegierungen;自动Korrektur der Materialdicke, exakte messpunktloctionerung auf eletronischen Bauteilen和leaterkten

Ein kompaktes micro-XRF光谱仪für viele Anwendungen

Haupteigenschaften

  • 灵活的仪器
  • Einfach zu bedienen
  • Benutzerfreundliche Touchscreen-Oberflache
  • Zugriff auf Rohdaten

Das M1 MISTRAL ist in kompaktes,能量色散微xrf光谱计mit einem vielsetigen Einsatzbereich。Es ist für den schnellen和kosten-günstigen在einer industriellen Umgebung konzipiert和einfach zu bedienen的Betrieb。Das M1 MISTRAL liefert präzise Informationen über die Zusammen-setzung und schichdicke von Materialien, wie z.B. Edelmetalllegierungen oder Strukturen mit mehren Schichten。

基材和Beschichtungen werden nach der ASTM-Norm B568和europäischen Norm ISO 3497分析仪。德国化学镍分析公司。“化学沉积磷酸镍(NiP)涂料”)kann mit Anregung durch eine rh -阳极eine hohe Genauigkeit erreicht werden。

我是布吕希特尔·埃纳,在锡伯和施mucklegierungen的铂金属的最好的werden。Die Ergebnisse können entweder in Gewicht-% oder in Karat ausgegeben werden。

Die Analyse kann standardlos oder standardbasiert durchgeführt werden, um eine noch höhere Genauigkeit zu erreichen。Für jede Anwendung steht eine groe ße Vielfalt an Kalibrierungen zur Verfügung。

在einem Bericht ist der vollständige Arbeitsablauf in die Software integrert。gleichzetig widie volle Transparenz durch den offenen zuugang zu den Rohdaten gewährleistet。

Vorteile

Vorteile des M1 MISTRAL

Eine Vielzahl von element kann zerstörungsfrei gemessen werden。Eine proenvorbereitung ist niht erforderlich。Auch复杂分析Aufgaben können mit der program mimieraren XYZ-Stufe automatisiert and mit einem einzigen Mausklick gestartet werden。Ultraschnelle Erkennungssysteme liefern schnelle Ergebnisse。

Das M1 MISTRAL ist mit einem großen silica - driftdetektor (SDD) ausgestattet, der durch seine überlegene Zählrate und Energieauflösung Detektionsgrenzen sogar im ppm-Bereich ermöglicht。Durch die Kombination des hochleistungs -探测器,der数字脉冲和优化几何奇异的eine hohe Effizienz für die检测der Röntgenquanten erreicht, wodurch Sie schnelle und präzise Ergebnisse erhalten。

Die leichte Bedienung和under wartungsfreie Betrieb erleichtern nicht nur Die Arbeit, in Kombination mit der leistungsfähigen Software können Analysen auch von Personal mit minimalem Training durchgeführt werden。Weder zusätzliches Gas noch Verbrauchsmaterialien sind erforderlich。模具坚固的Konstruktion高粱für höchste Stabilität。

Spezifikationen

技术细节

Anregung

  • Mikrofokus Röntgenröhre mit W- oder rh -阳极
Max。Probengröße & Gewicht
  • 48厘米× 49厘米× 20厘米
  • 双1,8公斤

Detektor

  • Peltier gekühlt, 30 mm²hochleistungs - silica漂移探测器,
  • Energieauflösung <150 eV für Mn Kα
Scanbereich
  • 200毫米x 175毫米x 80毫米(mit motorisiertem XYZ-Probentisch und EasyLoad-Funktion)

Analysebereich

  • 标准:ab Ti (Z=22) mit w -阳极
  • 可选:ab Al (Z=13) mit rh -阳极
仪器仪表(B x T x H)
  • 550毫米× 680毫米× 430毫米
Kollimator
  • Kollimatorwechsler für 0,1 mm bis 1,5 mm

软件

XSpect Pro分析软件

  • 仪器设计,数据设计和管理
  • Optionale Touchscreen-Oberflache
  • Probentisch-Steuerung和Programmierung
  • 分析金属结构的结构结构
  • 定量分析材料,标准和标准basierte经验模型
  • 达斯特隆冯斯佩克特伦mit自动峰识别
  • 趋势与数据für统计Prozesssteuerung
  • Berichts-Generator
  • Ergebnisarchiv

雷竞技官方网站新闻及活动雷竞技贴吧