原子力显微镜

NanoWizard 4 XP纳米科学

极端的性能满足最大灵活性

突出了

NanoWizard®4 XP纳米科学

的NanoWizard XP®4纳米原子力显微镜提供原子分辨率和扫描范围的100µm在一个系统中。它使快速扫描的利率高达150行/秒,用先进的光学技术无缝集成。广泛的模式和环境控制配件,纳米机械的映射,电,磁或热性能,使它今天市场上可用的最灵活的系统。

精度
调查材料特性
机械、热、电测量:可视化结晶融化,增长和相分离。修改样品的光刺激、磁场或电压。
流线型的
理想的多用户平台
为专家用户高级选项和特性。广泛范围的配件为研究导电薄膜、磁力梯度和静电的力量。
性能
150行/秒,100µm扫描范围
流线型的设置以提高生产力。理想的高度结构的动态实验样本。快速和简单的运动。

Eigenschaften

特性

最高的灵活性结合极端性能

NanoWizard 4 XP纳米科学配备了一系列新功能,包括:

  • PeakForce攻®方便成像
  • 快速扫描选项150行/秒
  • NestedScanner技术16.5µm高速成像的表面结构与杰出的分辨率和稳定
  • 新的瓷砖功能大样本区域的自动映射
  • V7软件与革命性的新workflow-based用户界面
  • DirectOverlay™2软件完美的集成和数据关联与先进的荧光显微镜平台
  • Vortis™2控制器对于高速信号处理和噪音水平最低
阶段,图像显示了动态增长前poly-hydroxybutyrate-co-valerate (PHB / V)球粒结晶。线率:150行/秒。

PeakForce开发提供了优越的力量控制和一个简单的设置,无论样本或环境。没有专业知识或悬臂调整是必要的。

它使probe-to-sample交互的精确控制和最小化成像力,从而保护你的提示,确保一致的,长期的,高分辨率成像。

PeakForce利用图像的等规聚丙烯(IPP) dropcast薄膜。[1]与插图地区地形概览图像标记。高度范围:50 nm。[2]地形放大区域。高度范围:25 nm。

自动化分析大样本地区新瓷砖的功能

导航最快和最容易的方法是看你想去的地方。DirectOverlay 2提供即时导航,直接选择测量位置在扫描范围内的任何地方。机动精度阶段和HybridStage™的侧向约束的自由实验AFM压电范围,并允许直接机动运动到选定的位置。

DirectTiling功能会自动创建一个大型光学概述加速这个过程。断层使瓷砖的高分辨率图像的样本建立一个全面的概述。重复的或复杂的测量序列可以自动使用ExperimentPlanner™宏。

图像显示PDMS表面印图案,样品由克劳迪奥·蒙塔博士,意大利热那亚大学。[1]光学图像的参考模式。4平方区域被标记为同心角落模式,内部形成一个角落与测试模式打印50微米广场中心,但在光学不可见。导入到与DirectOverlay SPM软件,这些图像允许单击导航之间的引用位置隔开多次压电范围。气的先进图像两个这样的参考模式(见箭头),地形[2]+[4]和粘连图像[3]+ [5]。

增强材料属性的映射

KPM SRAM, EFM SRAM和CAFM铜层。

电的特性,机电或磁样本属性总是一项艰巨的任务,特别是在松散,易碎或软样品。JPK的气™先进模式能力使这个简单和直接。NanoWizard 4支持XP纳米系统全方位的模式及配件,每个设计的简单处理和满足个人需求的研究。许多实验研究材料特性,包括电气性能,受益于在一个封闭的细胞测量在惰性气体气氛控制。

表征材料特性

  • 力学性能(弹性、硬度、附着力、变形)
  • 电气性能和电力显微镜、Conductive-AFM开尔文探针AFM (KPM),扫描隧道显微镜(STM)
  • 磁性与MFM
  • 与photo-conductive AFM光电性质
  • 当地的热性能通过扫描热AFM
高度和MFM镍铁矩形磁结构的形象。

现场AFM在应用外部负载改变样本的属性

  • Piezoresponse显微镜高电压(PFM)
  • 观察样品与StretchingStage外部负荷
  • 应用外部磁场
  • 电化学和扫描电化学(SECM)
塑料薄膜拉伸前后。
NanoWizard 4 XP安装CryoStage和结晶聚乙烯以-120°C。

样本环境控制选项

  • 从环境样本加热到300°C
  • 从环境样品冷却到- 35°C
  • Cryo-AFM CryoStage降到- 150°C
  • 定义样本湿度
  • 适合实验液体甚至严厉的液体
  • 实验气体流量控制
  • 在手套箱要求实验环境

关键特性

  • 快速扫描选项高达150行/秒跟踪动态过程
  • 现在有力量的专属PeakForce利用作为标准
  • l阿尔该扫描100×100×15µm领域3在倒置显微镜和原子点阵分辨率
  • 新的workflow-based用户界面人体工程学和易于操作
  • 新的瓷砖功能大样本的自动映射区域HybridStage一起
  • 新的Vortis 2控制器高速低噪声dac和尖端位置传感器读出技术
  • 最高的灵活性和可升级性与广泛的模式及配件
与TopViewOptics NanoWizard 4 XP纳米科学设置,新的用户界面和平板电脑控制。

Anwendungen

应用程序

画廊NanoWizard 4 XP纳米科学数据

力量的BioAFMs允许生命科学和生物物理学研究人员进一步调查领域的细胞力学和附着力,力学生物学、信息和细胞表面的相互作用,细胞动力学,细胞形态。我们收集了一个画廊的图片展示的应用程序。

Spezifikationen

规范

操作模式

标准的操作模式

成像模式

  • 现在PeakForce攻
  • 联系方式与横向力显微镜(lem)
  • 开发模式与PhaseImaging™™

力的测量

  • 静态和动态光谱法
  • 先进的力映射

可选模式

  • 快速扫描选择150行/秒
  • 快气高级模式的量化数据,适合软样品
  • 机械性能如附着力、弹性刚度、变形
  • 电导率和电荷分布映射
  • 接触点成像(CPI)为零的力量
  • 雷竞技怎么下载分子识别成像结合位点的映射
  • 先进的交流方式如FM和PM Q-control &活跃
    增益控制
  • 高次谐波成像
  • 开尔文探针显微镜和SCM MFM和EFM也气模式)
  • 导电AFM(参见气模式)
  • 扫描隧道显微镜
  • 电子光谱模式
  • Piezoresponse显微镜高电压
  • 电化学与温度控制和光学显微镜
  • 纳米
  • 纳米操作
  • Nanoindentation
  • 热AFM扫描
  • 从Cytosurge FluidFM®的解决方案
  • ExperimentPlanner设计一个特定的测量工作流程
  • RampDesigner™定制设计夹具和斜坡实验
  • ExperimentControl特性为远程实验控制
  • DirectOverlay 2 AFM和光学显微镜相结合
  • 额外的XY或Z样运动阶段可用CellHesion®,道™和HybridStage™模块

配件

配件

在市场上广泛的配件

光学系统/配件、电化学方法、电子样本特征,环境控制选项,软件模块、温度控制、声学和振动隔离解决方案等等。力量为您提供正确的配件来控制你的样本条件和执行成功的实验。

软件

软件

新workflow-based用户界面重新定义用户友好性

新的V7软件界面引导用户通过工作流设置实验直观地和使它简单,即使是用户以最小的AFM经验,进步自信地生成高质量的数据。每个阶段的优化设置和操作是一个桌面,集中了所有的重要信息与一个单一的点击。

  • 屏幕上,上下文敏感的帮助
  • 状态反馈校准和设置
  • 高效的基于任务的实验选择
  • 快速访问最喜欢的和最近使用实验
  • 一键式探针校准
  • 即时的概述的关键数据
  • 用户管理等多用户环境成像设备

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