原子力显微镜

纳米奇才纳米科学

极致的性能满足最大的灵活性

亮点

NanoWizard®4 XP纳米科学

NanoWizard®4 XP纳米科学原子力显微镜在一个系统中提供原子分辨率和100 μ m的大扫描范围。它能够以高达150行/秒的速度快速扫描,并与先进的光学技术无缝集成。广泛的模式和附件,用于环境控制,纳米机械,电气,磁性或热性能的测绘,使其成为当今市场上最灵活的系统。

精度
调查材料性质
机械、热和电测量:可视化结晶、熔化、生长和相分离。用光刺激、磁场或电压修改样品。
流线型的
理想的多用户平台
高级选项和功能的专家用户。广泛的配件,用于研究导电薄膜,磁力梯度和静电力。
性能
150线/秒,100µm扫描范围
简化设置,提高生产力。适用于高结构样品的动态实验。快速和容易移动周围的样品。

特点

特性

最高的灵活性与极限性能相结合

NanoWizard 4 XP NanoScience配备了一系列新功能,包括:

  • PeakForce攻®便于成像
  • 快速扫描选项高达150行/秒
  • NestedScanner技术用于高达16.5µm的表面结构的高速成像,具有出色的分辨率和稳定性
  • 新的平铺功能用于大样本区域的自动制图
  • V7软件具有革命性的基于工作流的新用户界面
  • DirectOverlay™2软件与先进的荧光显微镜平台进行完美的整合和数据关联
  • Vortis™2控制器用于高速信号处理和最低噪声水平
相图显示了聚羟基丁酸酯-共戊酸酯(PHB/V)球晶结晶的动态生长前沿。行率:150行/秒。

PeakForce攻线提供卓越的力控制和简单的设置,无论样品或环境。不需要专业知识或悬臂调谐。

它可以精确控制探针与样品的相互作用,并最大限度地减少成像力,从而保护您的尖端并确保一致,长期,高分辨率的成像。

等规聚丙烯(IPP)滴铸薄膜的峰值力敲击图像。[1]带有插入区域标记的地形概览图像。高度范围:50nm。[2]地形放大到标记区域。高度范围:25nm。

自动分析大样本区域与新的平铺功能

最快和最简单的导航方式就是看你想去哪里。DirectOverlay 2提供即时导航,在扫描仪范围内的任何地方直接选择测量位置。电动精密阶段和HybridStage™自由实验的AFM压电范围的横向约束,并允许直接电动运动到选定的位置。

DirectTiling功能自动创建一个大的光学概述,以加速这一过程。Multiscan支持高分辨率图像的平铺,以建立样本的全面概述。重复或复杂的测量序列可以自动使用ExperimentPlanner™宏。

图片显示PDMS冲压表面图案,样品由意大利热那亚大学Claudio Canale博士提供。[1]参考图案的光学图像。四个正方形区域标有同心角图案,内角形成一个50微米的正方形,中间印有测试图案,但在光学中不可见。通过DirectOverlay导入SPM软件,这样的图像允许在参考位置之间单击导航,这些位置被许多倍的压电范围分隔开。两种参考模式的高级图像(见箭头),地形[2]+[4]和粘附图像[3]+[5]。

增强的材料属性映射

SRAM上的KPM, SRAM上的EFM和CU导电层上的CAFM。

表征电,机电或磁性样品的性质一直是一项艰巨的任务,特别是在松散附着,脆性或软样品。JPK的气™先进模式功能使这变得简单和直接。NanoWizard 4 XP纳米科学系统是由一个全面的模式和配件的支持,每个设计易于处理,以满足研究人员的个性化需求。许多研究材料特性(包括电学特性)的实验都得益于在封闭的实验室内进行测量,并在受控的惰性气体气氛下进行。

材料性能表征

  • 机械性能(弹性、刚度、附着力、变形)
  • 电学性质与电力显微镜,导电AFM,开尔文探针AFM (KPM),扫描隧道显微镜(STM)
  • MFM的磁性能
  • 光导AFM的电光性质
  • 扫描热原子力显微镜研究局部热特性
NiFe矩形磁性结构的高度和MFM图像。

原位AFM,同时施加外部载荷来改变样品的性质

  • 高压压电响应显微镜(PFM)
  • 用StretchingStage观察外载荷下的样品
  • 施加外部磁场
  • 电化学与扫描电化学(SECM)
拉伸前后的塑料薄膜。
NanoWizard 4 XP设置与CryoStage和结晶聚乙烯测量在-120°C。

环境控制选项示例

  • 样品从环境温度加热到300°C
  • 样品从环境温度冷却至- 35°C
  • 低温afm降低到- 150°C与CryoStage
  • 定义样品湿度
  • 非常适合在液体中进行实验即使是恶劣的液体
  • 控制气流的实验
  • 在手套箱里进行严苛环境下的实验

关键特性

  • 快速扫描选项高达150行/秒跟踪动态过程
  • 现在有了布鲁克独家的PeakForce tap作为标准
  • l大扫描场100 × 100 × 15µm3.倒置显微镜的原子晶格分辨率
  • 新的基于工作流的用户界面符合人体工程学和易于操作
  • 新的平铺功能用于与HybridStage一起自动绘制大样本区域
  • 新的旋涡2控制器采用高速低噪声dac和先进的位置传感器读出技术
  • 最高的灵活性和可升级性具有广泛的模式和配件
NanoWizard 4 XP NanoScience设置与TopViewOptics,新的用户界面和平板电脑控制。

应用

应用程序

纳米向导4 XP纳米科学数据库

Bruker的bioafm允许生命科学和生物物理学研究人员在细胞力学和粘附、机械生物学、细胞-细胞和细胞表面相互作用、细胞动力学和细胞形态学等领域进一步研究。我们收集了一些图片来展示其中的一些应用程序。

技术参数

规范

操作模式

标准操作模式

成像模式

  • 现在有了PeakForce tap
  • 侧向力显微镜(LFM)接触模式
  • 轻拍模式™与PhaseImaging™

力的测量

  • 静态与动态光谱学
  • 高级力映射

可选模式

  • 快速扫描选项,高达150行/秒
  • 快速QI高级模式定量数据,完美的软样品
  • 机械性能,如附着力,弹性,刚度,变形
  • 电导率和电荷分布映射
  • 零力接触点成像(CPI)
  • 雷竞技怎么下载结合位点定位的分子识别成像
  • 先进的交流模式,如调频和PM与q控制和主动
    增益控制
  • 高次成像
  • 开尔文探针显微镜和SCM MFM和EFM(另见QI模式)
  • 导电AFM(参见QI模式)
  • 扫描隧道显微镜
  • 电光谱模式
  • 高压压电响应显微镜
  • 电化学与温度控制和光学显微镜
  • 纳米
  • 纳米操作
  • Nanoindentation
  • 扫描热原子力显微镜
  • 来自Cytosurge的FluidFM®溶液
  • 用于设计特定测量工作流程的ExperimentPlanner
  • RampDesigner™用于定制设计的夹具和斜坡实验
  • 实验控制功能,用于远程实验控制
  • 直接覆盖2联合AFM和光学显微镜
  • 额外的XY或Z样品移动阶段可与CellHesion®,TAO™和HybridStage™模块

配件

配件

市场上最广泛的配件

光学系统/配件,电化学解决方案,电样品表征,环境控制选项,软件模块,温度控制,声学和振动隔离解决方案等等。布鲁克为您提供合适的配件来控制您的样品条件并进行成功的实验。

软件

软件

新的基于工作流的用户界面重新定义了用户友好性

新的V7软件界面引导用户通过工作流程直观地设置实验,并使其简单,即使对于具有最小AFM经验的用户,也可以自信地进步以生成高质量的数据。设置和操作的每个阶段都是一个优化的桌面,只需单击一下就可以将所有重要信息集中在一起。

  • 在屏幕上,上下文敏感的帮助
  • 校准和设置的状态反馈
  • 高效的基于任务的实验选择
  • 快速访问最喜欢的和最近使用的实验
  • 一键式探头校准
  • 关键数据的即时概览
  • 多用户环境(如成像设施)的用户管理

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