布鲁克纳米分析介绍:微xrf回到根系列第一部分

介绍微x射线荧光分析技术

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空间分辨x射线荧光,也叫micro-XRF它在50多年前首次被描述。从那时起,尽管它在几个工业和学术应用领域相当普遍,但多年来它一直是一种小众技术。早期的出版物确定了同样的分析优势,今天仍然适用,例如在较大的样品中对特定小区域进行无损样品分析,从而更好地描述化学上不均匀的材料。雷竞技网页版此外,该技术快速,因为很少或不需要样品制备,并具有主要和微量元素的灵敏度。

近年来,通过一系列技术的发展,提高了该技术的性能。激励源的进步,增强的信号检测和处理能力,结合高效和引人注目的数据挖掘和量化算法,创造了强大而通用的分析技术。因此,微xrf被认为是材料分析中不可缺少的技术。

本次网络研讨会是三场系列研讨会中的第一场。这个系列被称为“回归本源”。多年来,我们创建了大量高质量的网络研讨会。然而,根据最近的要求,我们决定回归微xrf分析的“本源”。

第一次网络研讨会将介绍micro-XRF作为一种技术,强调多种仪器组件的分析相关性,并从分析的角度讨论其意义。讨论的组件包括x射线源和光学、探测器、主滤波器和真空系统等。第二次网络研讨会将重点讨论元素分布分析,这是该技术的主要功能之一,而最后一次网络研讨会将详细讨论微xrf定量分析。

最终,我们的目标是提供一个紧凑的信息包,强调我们认为是该技术的主要功能,并探索该技术的哪些特性M4龙卷风使其成为市场上最通用的台式微型xrf仪器。

如果您觉得本次研讨会有深刻见解,我们鼓励您观看我们的其他“回归本源”微型xrf网络研讨会:

使用micro-XRF仪器M4 TORNADO扫描指纹
使用micro-XRF仪器M4 TORNADO扫描叶片
使用微型xrf仪器M4 TORNADO扫描高度集成的电话微芯片

演讲者

福尔克莱因哈特

高级应用科学家Micro-XRF, Bruker Nano Analytics

罗尔德·塔格勒博士

高级应用科学家Micro-XRF, Bruker Nano Analytics

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