利用微x射线荧光定量分析

在“回归本源”系列的第三次网络研讨会上，布鲁克纳米分析公司的专家们展示了微x射线荧光光谱作为定量分析技术的潜力。在介绍了该技术的基础知识以及定性和半定量分析的潜力之后，是时候关注定量分析了。

定量分析通常被认为是样本分析的唯一“正确方法”，它只是一种使用绝对数字来描述样本的方法。微xrf中使用的单位可能不常见，例如每单位面积的原子数或百万分之一，或者它们可能更熟悉，例如重量百分比。

分析的可重复性和结果的正确性是定量分析的基本特征，本文将在微xrf分析中讨论这些特征。当然，两者都有，高精度的良好分析，以及缺乏支持的结果。然而，后者不应该被称为半定量的，而是有很大的误差或不确定性。有很多原因可以解释为什么结果不会更好。这可能与样品或仪器有关，甚至测量条件或物理本身也可能产生至关重要的影响。

在本次网络研讨会上，我们展示了从简单到复杂样品，从无限厚到薄，从理想到非理想样品的量化潜力。利用实例详细阐述了优化分析输出的可能性。我们还讨论了检出限，并开发了潜在的改进和参数优化。

如果您计划观看本次网络研讨会，我们鼓励您访问并看看我们之前的两次“回归根源”网络研讨会，它们也可以按需观看。“回归本源”系列的第三部分不仅介绍和介绍了关于量化的思想，而且还以本系列前面介绍的内容为基础。

谁应该观看?

• 所有对微x射线荧光作为定量分析技术感兴趣或使用的人。
• 应用涉及定量分析的手持XRF用户。