利用唯一的轴上探测器同时获取扫描电镜中的晶体学和元素信息
最快的同时TKD和EDS测量
力量的独特XFlash®FlatQUADEDS探测器具有高达1.1 sr的超高立体角，可与OPTIMUS 2用于从空间分辨率和速度不匹配的电子透明样品中获取含有化学和晶体方向数据的地图。
精确的定量EDS分析可以使用为电子透明样品设计的方法进行:
- Cliff-Lorimer-factor方法
- Zeta-factor-method
结合EDS和TKD测量是表征含有多个晶体相的未知样品的理想方法，例如沉淀物和/或夹杂物。结合的数据集可用于离线相位识别和再分析，具有极大的效率收益精灵2的索引能力高达60000模式/秒。
使用XFlash FlatQUAD EDS探测器(上)，OPTIMUS 2探测器头(下)和TKD样品支架(中)同时进行轴上TKD和EDS映射的探测器-样品几何结构
XFlash FlatQUAD EDS探测器，其四个SDD芯片布局和直方图显示其立体角随SDD芯片与样品之间距离的变化
从氧化物分散强化(ODS)钢样品中获得的bf样图像显示铁素体颗粒基质中的氧化钛颗粒(亮灰色)和富钇氧化钛颗粒(深灰色)。采用5 nA探头电流和20 kV加速电压，在3s内获得图像。
以272点/秒的速度与EDS超图同时获得的TKD图的模式质量图表示。该测量的吞吐量计数率为1 Mcps。
显示Ti分布的EDS超图(归一化原子%)
显示Y分布的EDS超图(归一化质量%)
离线相位识别和重新分析后的最终相位分布图(TKD结果)。红色为铁氧体基体，绿色为氧化钛颗粒，蓝色为富钇氧化钛颗粒。
每个晶体相的取向分布图(IPFz)和相应的着色方案