土壤中污染物和毒素的鉴定
使用大面积映射(超映射)SEM-XRF可在有地形的样品上进行。即只需要极少的样品制备，样品可以直接分析而不需要任何变质。这在土壤分析中尤其相关，其中任何形式的样品制备，如安装和抛光或碳涂层，都可能改变样品。micro-XRF可以直接分析土样，如图1所示。这包括主要元素，也包括可能含有污染物或毒素的微量元素或微量矿物相(见图2)。在本例中，识别出含有Pb和As污染物的颗粒。
图1:土壤的大面积x射线图(120 mm x 30 mm)(分析参数:管电压Rh在50 kV，阳极电流600 μ A，像素间距25 μ m)。上一行从左至右:四个土壤样品的x射线总强度图(类似于BSE图像，灰色)。第二行从左至右:K(紫色)和Ca(黄色)。第三行从左至右:Ti(橙色)和Mn(蓝色)。下一行从左至右:Fe(红色)和F1(灰色)。
图2:土壤样品分析，确认样品4中存在铅(右)。底部图像显示了样品的光谱，证实了样品中铅和砷的鉴定。